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    產品失效部位定位技術

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    2.3.2產品失效部位定位技術

    2.3.2.1外觀檢查技術

    外觀檢查通常採用目檢,可以直接用眼睛觀察或者用10~40倍的放大

    鏡或光學顯微鏡。

    外觀檢查的作用之一是驗證失效件與標準、規範的一致性。主要內容

    有:驗證失效件的標誌(產品代號、產品批號等),材料(如針腳塗覆是鍍

    鎳還是鍍錫),結構(如產品外殼類型是直插式還是扁平式,有否發光二極

    體),工藝(如產品表面印字是移印還是鐳射印)等。

    外觀檢查的作用之二是尋找可能導致失效的疑點。例如,濾波器塑膠

    封裝有裂縫,BelMag針腳根部有異物(膠)。

    由於Bel之產品失效分析大部分要做去掉外殼的拆封、解剖工作,外

    觀檢查的物件可能不再存在,因此,外觀檢查時要做記錄並適當影像。

    2.3.2.2機械量度技術

    機械量度一般採用經專業儀器校驗人員確定的計量合格的卡尺、投影

    儀、厚薄規、針規、高度計、力度計等一系列量規、量具對產品作量測。

    並對照產品規格書要求確定其是否合格,或通過量測試的資料分析產品

    設計是否合理。
    [url] 链接[/url]可靠性.com
    因此,機械量度的作用也是驗證失效件與標準、規範的一致性以及查

    找可能的失效疑點。

    2.3.2.3產品拆封、解剖前電性能驗證技術

    1.功能測試

    產品解剖前電性能驗證技術之一,是功能測試。解剖前功能測試的作

    用是確認產品是否失效;解剖過程中多次功能測試的作用是建立參考判

    據,得出失效模式和失效分析過程是否引入新的失效因素。功能測試的

    主要做法是按照失效件的產品手冊或採購規範規定的電性能要求,使用

    規定的測試儀器和設備驗證產品的功能和性能是否正常,確定失效模式。

    功能測試一般採用計量合格的測試儀器設備。特殊情況時,需按客戶

    要求與產品規範規定要用到一系列的測試夾具與混合電路,如MAU,OSI

    HID之類電氣性能測試。

    對失效件進行功能測試後,一般可以得出具體的性能失效模式(如

    OCL,OPEN,DCR,IL等)並可以按2.1.4節失效模式的定量判據,確認為

    完全失效(在測試中,完全失效也稱為功能失效)。

    2.附加測試

    失效件解剖前電性能驗證技術之二,是附加測試,也稱補充測試。用[url] 链接[/url]

    於驗證環境條件與失效的聯繫,尋找可能導致失效的疑點。例如,對

    BelMag做125℃時半個小時的烘焙,再做電測試,以驗證產品在客戶裝

    配時所發生故障與溫度之關係。

    2.3.2.4X射線照相或即時檢測

    當解剖前功能測試結果出來以後,我們需進一步確定其位置。

    例如,用萬用表對某種SMD塑封10/100BaseT各針腳之間的電測試,

    並與合格品比較,得出異常的數值。對照產品原理圖,可以確定大致位

    置,在針腳附近OPEN還是線圈內SHORT。

    為進行下一步的失效分析指出方向。以下兩種方法可以適當運用:

    a)可用X射線即時檢測系統對其觀察,在螢幕上找出失效點並且將

    圖像存電腦或列印作為結論之依據。

    b)可用X射線照相設備對放置在感光膠片上的失效件作為時12~18

    秒的照射,用顯影液與定影液處理膠片取得內部電路佈線或結構

    圖之底片,然後在放大鏡下觀察分析之,並作為結論之依據。

    2.3.2.5失效件顯微鏡觀察、照相技術

    顯微鏡觀察、照相技術和即時錄影技術可能要在失效分析的全過程中

    經常使用,應用這些技術的水平,直接影響失效分析質量、進度和經濟中国可靠性网可靠性、com

    效益。顯微鏡觀察、照相和即時錄影的主要作用是:

    (a)固定並且確定失效現場。如供應商來貨時包裝不良致產品付運裝

    卸時雜亂、損壞。此類照相可為分析研究失效情況,開展失效分析工作,

    提供線索和依據。

    (b)固定並且確定被檢物體的特徵。為了使失效部位定位,經常要進

    行由表及裏的工作,例如,對10/100BaseT要去掉外殼環氧樹脂封裝與

    線圈所被覆的矽膠、對ICM產品要除掉金屬罩,這些工作具有破壞性,

    或者說具有不可逆性。因此,固定並且確定重要步驟被檢物體的特徵,

    將為揭示和證實失效部位或失效機理提供證據。

    (c)儲存失效分析資料。為以後的失效分析中快速地鑒別已知和未知

    的現象提供證明,避免重複性勞動或無效勞動。

    在做光學顯微鏡觀察時,應首先將樣品固定在樣品臺上。理想的樣品

    台,應具有上下、左右、前後旋轉和傾斜等調節功能。簡便實用的辦法

    是將樣品固定在適量的橡皮泥上。在觀察樣品時,為便於調節焦距,起

    始的放大倍數不宜太高,可以從5倍左右開始。照相的內容中,一般要

    有失效與合格樣品的全貌照片和局部特寫照片。失效樣品的局部特寫照[url] 链接[/url]

    片應突出失效特徵,並注意以失效樣品相同的放大倍數攝下合格失效件

    的全貌和局部。全貌照片除為說明局部和整體的關係之外,還可以說明

    樣品的結構。

    2.3.2.6失效件解剖技術

    解剖技術是暴露更深層次或更為內部問題所必須的技術。

    1.解剖的難點

    解剖的難點之一是:經解剖後,只暴露指定的層次或部位尋找揭示失

    效原因的失效痕跡。

    解剖的難點之二是:絕大部分Bel產品的體積較小,操作困難。

    解剖的難點之三是:雖然解剖工作相當於逆向的製造加工過程,但許

    多情況下,不能採用與製造加工相同的辦法達到解剖的目的。例如,製

    造10/100BaseT環氧樹脂的外殼,是將可塑的熱固性環氧樹脂在高溫下

    固化。保待一定的溫度,就完成製造加工。但如果解剖時也採用保持一

    定溫度的做法,是去不掉環氧樹脂外殼的。所以,解剖工作既不能破壞

    原有的失效痕跡,也不應出現雖然保持原有的失效痕跡,但引入了新的

     

    失效因素的情況。

    2.解剖的步驟

    由於解剖工作有較大的風險性,因此,解剖工作需分三步走。

    第一步,要瞭解清楚樣品的製造工藝和內部結構。即參閱與失效件相

    對應的產品規格書與工序操作指引等。

    第二步,是選取與失效樣品的工藝和結構相同(例如相同製造批次)的

    正常產品實施解剖(有條件時可從生產部尋找報廢品多作練習),以實踐

    檢驗解剖方案的正確性。

    第三步,再對失效樣品作破壞性解剖以尋找失效機理。

    3.常用的解剖設備和材料

    常用的解剖設備和材料包括;封裝(外殼)開封機、切割機、研磨機、

    尖嘴鉗子、斜口剪和一些化學試劑。

    4.常用的解剖技術

    常用的解剖技術有封裝(外殼)開封、表層剝離和制取剖面

    (a)封裝(外殼)開封技術

    Bel電子產品的封裝樣式千姿百態(如常見的有扁平、直插、圓形金屬

    帽、J型腳、金屬罩),封裝材料五花八門(如金屬、塑膠、環氧、玻璃、

    矽膠),封裝封口(密封縫)多種多樣(如塑封、Fuse錫封、冷壓、HID緊配

    合)。因此,要全面地列出各種封裝的準確的開封方法是有一定困難的, 链接

    也許沒有必要。但經歸納總結,常用封裝開封技術有直接剪切、磨薄劃

    縫、圓形開帽器、等離子腐蝕、化學腐蝕等。

    直接剪切是利用基本工具如鉗、剪等,輔之以適當的夾具,小心地將

    產品外部封裝材料(一般為塑封)去除,暴露內部結構的一種方法。此

    方法方便、快捷,在Bel應用最多。但必須注意的是,操作時,力度不易

    受控制,易傷及產品而產生新的失效模式,失效分析員需要經常訓練,

    才熟能生巧。

    磨薄劃縫技術要點是:研磨密封縫,邊磨邊看至足夠薄,但並不磨透。

    清潔樣品表面後.用鋒利的工具(如小刀)劃開密封縫。磨薄劃縫開封法適

    用於有密封縫的封裝。如注塑產品。此方法效率太低,除非必要,很少

    採用。

    圓形開帽器裝置利用切割輪對圓帽做環形切割。在環形切割時,不斷

    調節切割深度,直到圓帽在環形切口處被切開。圓形開帽器適用於有空

    腔的圓形封裝開封。如Fuse。

    工業界也有採用等離子腐蝕的方法用以開封,它是利用高額輝光放電

    形成等離子體,以氧氣等氣體做腐蝕劑與被腐蝕材料發生化學腐蝕反[url] 链接[/url]

    應。可以將塑膠、環氧等封裝變成粉末,除去封裝。等離子腐蝕法適用

    於塑膠、環氧等封裝的開封(此方法在Bel並未採用,故略)。

    化學腐蝕開封也適用於塑膠、環氧等封裝。經常使用的化學藥品是發

    煙硝酸或硫酸,將產品投入加熱後沸騰的化學液體中進行腐蝕,幾分鐘

    後再取出內部結構件,用無水酒精脫水再清洗乾淨。Bel澳門曾試用過,

    但因危險性太大且效果不理想,後停止使用。

    (b)元件分離技術

    由表及裏、由淺入深是分析瞭解事物本質的常用的方法。要深入地對

    Bel產品特別是對ICM產品進行失效分析,必須掌握產品各元件的分離

    技術。

    分離技術的基本過程是,在對產品的各元件進行判別的基礎上,熟悉

    其工藝方法,有針對性地用不同的工具、方法,盡最大可能完整地分離

    各元件,逐漸暴露、尋找不合格的組件。通過檢測收集有關分離前後的

    資訊,確定失效件的失效部位、失效機理。

    (c)制取剖面技術

    制取剖面技術大體分為砂紙研磨法、化學腐蝕法和離子刻蝕法。

    砂紙研磨是傳統的制取表面技術,其一般過程是將樣品嵌入裝置(澆鑄[url] 链接[/url]

    或固封),在研磨機上研磨。通過調行研磨壓力和研磨用金剛石砂紙(如不

    用砂紙,可以採用拋光劑)的顆粒大小,控制剖面的質量。研磨壓力大時,

    可以節省時間,但容易出現破裂和溫度過高造成的形變。為了較快地完

    成研磨,並使預定層次的剖面不帶有研磨的痕跡,應從較大顆粒的砂紙

    開始逐漸減小。有時為了方便,也可以直接用手工研磨,諸如分析Toroid

    Edge對Hi-Pot的影響時,用砂紙制取磁環剖面後,可以直接在測量顯微

    鏡下分析與量取數值。

    化學腐蝕與離子刻蝕制取剖面技術,在Bel沒有應用,此處略去。

    2.3.2.7產品解剖後外觀檢查、機械性能與電性能驗證技術

    獲得樣品上任意懷疑點的機械性能、電性能資訊,往往是證實假設的

    失效部位和失效機理的關鍵。解剖後這兩者之驗證技術主要包括外觀檢

    測、尺寸量測,電性能測試等技術。對照產品規範書之要求,應用傳統

    測量方法即可完成此步驟。

    看到了,就要顶一下啊
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    要是有手機,筆記電腦方面的失效資料就很好喔!
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    我确实看到了,就帮你顶一下吧
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    Lv.1
    [quote]原帖由[i]sally_lit[/i]于2008-5-814:16发表[url=http://www.kekaoxing.com/club/redirect.php?goto=findpost&pid=21068&ptid=144][/url] 要是有手機,筆記電腦方面的失效資料就很好喔![/quote] 这种资料要到专业生产企业来找。
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    Lv.1
    也顶一下,不过是繁体的看起来还比较费劲
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    好东西,但繁体看起来确实很费力
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    最好能图文并茂!
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    看到有用的文章就一定要学习,定一下
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    Lv.4
    不错,蛮详细的
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