用户使用中出现的问题如何提前发现

可以采用高加速筛选（HASS）来将早期失效的产品筛选出来，这样可以在很大程度上避免到用户手上很快就出现问题。高加速寿试验（HALT）主要是用来暴露设计中存在的问题，为设计改进产品设计提供依据，并最终提高产品可靠性。

[quote][size=2][color=#999999]hehui418发表于2013-8-3007:59[/color][url=forum.php?mod=redirect&goto=findpost&pid=135608&ptid=14762][/url][/size] 可以采用高加速筛选（HASS）来将早期失效的产品筛选出来，这样可以在很大程度上避免到用户手上很快就出现问...[/quote] 没有HALT的数据，HASS也没办法开展啊还是要在研发段先做HALT，取得数据之后，量产段才能做HASS，

[quote][size=2][color=#999999]hehui418发表于2013-8-3007:59[/color][url=forum.php?mod=redirect&goto=findpost&pid=135608&ptid=14762][/url][/size] 可以采用高加速筛选（HASS）来将早期失效的产品筛选出来，这样可以在很大程度上避免到用户手上很快就出现问...[/quote] 有一点是：产品在HALT中发现的问题①与市场问题对应度不高？②通过高应力加速，也不能完全消除市场故障。

你的测试方法有没有依据市场来验证,比如说客房的环境和操作手法有没有考察?会不会比你的测试环境还要严酷. 第二点,市场出现问题是由于来料或工艺造成也不一定,需要你分析.

1、所有的实验室试验都是解决一定问题的，没有包打天下的方法； 2、模拟试验本身条件模拟是否科学也决定了试验效果的好坏； 3、不做试验结果会更差，产品的质量只能逐步提高，不可能100%不出问题。

[quote][size=2][color=#999999]wangxujun发表于2013-8-3013:30[/color][url=forum.php?mod=redirect&goto=findpost&pid=135623&ptid=14762][/url][/size] 有一点是：产品在HALT中发现的问题①与市场问题对应度不高？②通过高应力加速，也不能完全消除市场故障。[/quote] 请参照6楼的回复

[quote][size=2][color=#999999]gykhl发表于2013-8-3012:44[/color][url=forum.php?mod=redirect&goto=findpost&pid=135618&ptid=14762][/url][/size] 没有HALT的数据，HASS也没办法开展啊还是要在研发段先做HALT，取得数据之后，量产段才能做HASS，[/quote] 这个就要你们研究决定HASS试验的最终量级，没有现成的东西。

是否可以考虑DPA(破坏性物理分析) DPA是一种为验证电子元器件的设计、结构、材料、制造的质量和工艺情况是否满足预订用途或有关规范的要求，以及是否满足元器件规定的可靠性和保障性的试验，我觉得可以在产品出厂前抽样进行DPA. 欢迎讨论！

学习~\(≧▽≦)/~啦啦啦

可靠性模型一般有两个，一个是从统计出发，一个是从应力-强度出发 测试：目的验证是否存在缺陷，但不能得出没有缺陷的结论 试验：目的是否具有某种能力，但也不能得出没有缺陷的结论 这是测试与试验给定的应力是已知的（试验条件是已定的），测试数量是有限的，不能涵盖实际使用的情况。 那么如何保证实际使用中不出现的问题呢？ 有人考虑使用试验和测试的方法提前发现问题，再进行改进。但由于试验和测试的方法限制，不能完全满足产品保障的要求，所以你提出的问题是个无解的答案。 那么如何进一步提高产品的可靠性呢？根据上个问题，我们知道假设发现了问题，就能改进。现在的问题是我们未能发现问题，或者为了发现问题投入成本十分高昂。那么我们换个思路是否能直接从改进入手呢？唉，这个感觉可行！既然是改进，那么就是让我们设计变的更可靠，把可靠性的工作导入设计工作中，这个就是可靠性设计。 可靠性设计和可靠性试验是相符想成的，如果一个方式解决不了问题就换一种方法，效果会更好。但话又说回来了，如果可靠性设计和可靠性设计的任意一种方法都能把所有的问题都解决了，另一种方法存在性就大大打了折扣。 不要纠结一个思路，换个方式会更好！