• 注册
  • 可靠性试验 可靠性试验 关注:680 内容:3524

    请教:如何进行离子迁移试验。

  • 查看作者
  • 打赏作者
  • 当前位置: 可靠性论坛 > 可靠性技术 > 可靠性试验 > 正文
  • 10
  • 可靠性试验
  • Lv.1

    如题,PCB的离子迁移往往非常隐蔽和随机,很难再设计初期就检测出来,都是在实际试用一段时间之后才显现,如何通过增加试验环境的应力来激发离子迁移的加速,更早的将问题诱发。

    Lv.6
    任务达人
    85C85%RHbiase,orbiaseHAST
    回复
    见附件
    回复
    Lv.3
    [quote][size=2][color=#999999]yeh发表于2014-12-1607:22[/color][url=forum.php?mod=redirect&goto=findpost&pid=149551&ptid=16531][/url][/size] 85C85%RHbiase,orbiaseHAST[/quote] 双85测试的目的是什么? 从失效机理来看,会造成什么?
    回复
    上传图片跟附件太不友好了...上次想直接截图把相关信息弄上去的,结果没成功。。。

    电迁移与CAF相关图片.pdf
    1.34 MB,下载次数:0[记录]
    暂无描述
    大小:1374KB attach文件下载后改名pdf后缀


    SIR 电迁移 CAF.pdf
    175.32 KB,下载次数:0[记录]
    暂无描述
    大小:175KB attach文件下载后改名pdf后缀
    回复
    Lv.2
    菜鸟学习下
    回复
    Lv.1
    [quote][size=2][color=#999999]ljp199029发表于2014-12-2416:39[/color][url=forum.php?mod=redirect&goto=findpost&pid=149878&ptid=16531][/url][/size] 上传图片跟附件太不友好了...上次想直接截图把相关信息弄上去的,结果没成功。。。[/quote] 谢谢,学习了,双85测试周期是10天,是最短的。
    回复
    可以考虑HAST试验,130°,85%Rh,试验时间也许只需要96H
    回复
    参考下,谢谢了!
    回复
    Lv.2
    感谢
    回复

    请登录之后再进行评论

    登录
  • 可靠性工程软件ReliaSoft中国总代理上海山外山机电
  • 江苏拓米洛高端装备股份有限公司
  • 发布内容
  • 做任务
  • 动态
  • 风格
  • 到底部
  • 帖子间隔 侧栏位置: