半导体器件可靠性共608页
1.半导体器件的结构制造工艺及可靠性
2.半导体器件参数及其温度效应
3.热与热电反馈效应
4.界面效应.
关键词:半导体器件可靠性
下载地址: [url=https://www.kekaoxing.com/kkx/plus/download.php?open=1&link=L3VwaW1nL2Jvb2svsOu1vMzlxve8%2Fr%2FJv7%2FQ1C5yYXI%3D][color=#333333]本地下载[/url]
半导体器件可靠性共608页
1.半导体器件的结构制造工艺及可靠性
2.半导体器件参数及其温度效应
3.热与热电反馈效应
4.界面效应.
关键词:半导体器件可靠性
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