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    ESS规划

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  • 可靠性试验
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    ——在运用应力筛选中使用了传统的两个基本方法。在第一个方法中,客户应明确地详细说明筛选和将用到的筛选参数。第二种且更让人喜欢的方法,承包商为产品研制一个筛选计划。

    ——制定的方法要求:1)评估设备中的初始部分和生产类型中将出现的隐藏的缺陷,2)决定ESS后在设备中将出现的最大的允许的潜的缺陷,3)确定基于1)和2)上的具有充分筛选能力的筛选发展。描绘此方法的模块图解见图1。

    ——典型的隐藏的缺陷包括冷焊接接点,断掉/毁坏的电线,松垮的硬件,ESD毁坏以及管理上的受损。评价隐藏缺陷的最初的数量的最好的方法是从公司的经验数据。这个经验数据包括其他项目的历史记录,合格测试结果和现场失效数据。MIL-HDBK-344“电子设备的ESS”中也提出了基于系统复杂程度上的判定初始的潜在缺陷的一种方法。 [url] 链接[/url]

     中国可靠性网

    ——无ESS计划是理想的且一些潜在的缺陷在筛选之后可能还存在设备之中。MIL-HDBK-344给出了下面的方程,此方程可以决定隐藏缺陷的最大允许量:

    FR≤

    其中:FR=隐藏缺陷的失效率RequiredMTBF是客户要求的

    InherentMTBF是固有的MTBF

    SafetyMargin典型地从1.5到2

    ——环境应力的强度的计算在MIL-HDBK-344中有详细地描述。应力筛选应用在哪里和什么级别上装配等的选择是更难处理的问题。在这里花费是主要的激励器,目标在最少的时间内用最少的费用来选择最有效的筛选。设备和可得到的测试设备的环境的限制也必须考虑到。

    图2,是结合了MIL-HDBK-344,为初始的筛选选择和定位提供指南。

    [url] 链接[/url]êKaoXing.com。

    组装
    级别
    选择
    定位
     
     
     
     
    优点
    缺点
     
    E
    M
    M
    N
    每个析出的缺陷的花费是最地的(非电力筛选)
    测试缺陷效率相对比较低
     
    单元
    E
    M
    E
    M
    与装配级别相比具有较高的测试缺陷效率
    每个析出的缺陷的花费比装配级高很多
     
    系统
    E
    M
    span>E
    M
    高测试缺陷效率
    每个缺陷的花费最高
    [url] 链接[/url]

    图2ESS的初始规范

    其中:E—有效M—勉强有效N—无效

     中国可靠性网可靠性、com

     

    Lv.1
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