请问：
如何判断产生的痕迹是芯片上的什么部位？
需要芯片本身的什么资料么？
另外要附加什么分析手段么？
谢谢
请问芯片过电失效产生痕迹—之后的判断
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来源：中国可靠性网 原文链接：https://bbs.kekaoxing.com/3207.html
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bluech
Lv.1
你已经看到痕迹了吗？比如已经decap了？
一般不容易定位到是芯片上哪个管子失效（何况有些情况下是金属走线烧毁），即使定到了管子，没有电路拓扑作用也不大。
但是可以定位到是哪个管脚烧了，然后查找该管脚引入EOS的原因，从而解决问题。
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lssdpoly
Lv.1
一般都看到金属变黑了？
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阿牛
Lv.2
发现很多这样的失效样品
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aries
Lv.4
过电严重的话会在引脚的各个pin之间可有检测到短路信号
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annie@jing
Lv.1
现在我还是很难判断一个芯片是否损坏,最有效的判断方法是什么呢?
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aries
Lv.4
问你的supplier
按照出厂的spec去检测
哈哈哈哈哈
如果你很难判断的话，找design啦
relengineer在具体的技术细节上肯定不如design清楚
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