有坛友问电压加速模型的问题,这里把很久以前整理的一篇文章分享给大家参考一下。
原提问处:加速寿命测试时间的推算
以前整理的,请参考!
1、温度-湿度效应Hallberg-peck
AF=(RHt/Rhu)^3*exp[(Ea/k)*(1/Tu-1/Tt)]
2、温度效应ArrheniusModel
AF=exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}
3、微电路电压加速因子
Afv=exp(β*(Vt-Vu))
Vu=使用电压
Vt=测试电压
β=电压加速度常数(经验值得出)
贴子上传了附件:SSB-1:在军用、航空和其他严格应用领域中使用塑封微电路和半导体的导则(上)介绍了相关加速模型。
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