VDMOS经过加速寿命试验后漏源电流退化的机理是什么啊？
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zhangrui0210
Lv.1
高温存储试验能否恢复器件特性
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aries
Lv.4
是否和参杂载流子的渗透有关
ps:呢这个问题好专业
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