老化筛选的原理及作用是给电子元器件施加热的、电的、机械的或者多种结合的外部应力,模拟恶劣的工作环境,使它们内部的潜在故障加速暴露出来,然后进行电气参数测量,筛选剔除那些失效或变值的元器件,尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。
老化筛选的指导思想是,经过老化筛选,有缺陷的元器件会失效,而优质品能够通过。这里必须注意实验方法正确和外加应力适当,否则,可能对参加筛选的元器件造成不必要的损伤。
目前我司使用的老化筛选项目有高温储存老化、高低温循环老化、高低温冲击老化和高温功率老化等。下面把各个试验方法作一简要介绍:
(1)、高温储存老化:把器件置于150℃的恒温箱内放置168小时,考虑到我司实际情况,目前放置时间为48小时。
(2)、高低温循环老化:把器件置于-55℃的低温中15分钟,然后置于25℃的环境中5分钟,再置于150℃的环境中15分钟,如此循环10次。
(3)、高低温冲击老化:把器件置于0℃的环境中5分钟,然后取出马上置于100℃的环境中5分钟,接着取出马上置于0℃的环境中5分钟,如此循环10次。
(4)、高温功率老化:对于普通整流管、开关管等施加80%的VR额定电压,然后置于125℃的环境中168小时,考虑到我司实际情况,目前是置于105℃的环境中48小时;对稳压管我司目前是施加66%的功率置于70℃的环境中48小时。