请教二极管失效和寿命考核问题

[b]二极管的加速寿命试验[/b] 加速寿命试验是指采用加大应力的方法促使样品在短期内失效，以预测在正常工作条件 或储存条件下的可靠性，但不改变受试样品的失效分布。 通过加速寿命试验可达到以下目的： （1）、在较短时间里，对高可靠元器件的可靠性水平进行评估，可用外推法快速预测在 规定条件下的失效率； （2）、在较短时间内，对元器件可靠性设计、工艺改进和可靠性增长的效果进行评估； （3）、在较短时间内，加速暴露元器件失效模式和机理，从而可正确地制定失效判据和 筛选条件。 必须指出，元器件的电气规格参数指标与其性能稳定可靠是不同的概念，两者之间并没 有直接的联系。规格参数良好的元器件，它的可靠性不一定高；相反，规格参数差一些的元 器件，其可靠性也不一定低。电子元器件的大部分规格参数都可以通过仪表立即测量出来， 但是它们的可靠性和稳定性却必须通过各种可靠性试验，或者大量（或长期）的使用之后才 能判断出来。 电子元器件的失效率数据，可以通过对它的可靠性试验求得： λ＝失效率＝失效数÷（试验器件的总数×运用时间） 失效率的常用单位是Fit（1Fit＝10-9/h），一百万个元器件运用1000h有1个失效，就 叫做1Fit。失效率越低，说明元器件的可靠性越高。

[b]摘　要:[/b] 文中介绍了半导体激光二极管(LD)寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模 型,并据此设计了LD高温加速寿命自动测试系统。系统通过采集恒流工作LD的平均输出光 功率随时间变化的信息,绘制LD的老化曲线,即恒流条件下的P-t曲线,或通过采集恒功工 作LD的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I-t曲线,然后推断LD正常条件下的 使用寿命

硅稳压二极管的高温贮存加速寿命试验及失效分析 [b]这篇文章很长，够你看好长一阵子。[/b]

GaAs红外发光二极管加速寿命试验 哥们，好好看一下吧！

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[quote]原帖由[i]txz06[/i]于2009-1-701:33发表[url=http://www.kekaoxing.com/club/redirect.php?goto=findpost&pid=38130&ptid=4999][/url] 激光二极管的筛选和寿命评价 这篇，还有另外1篇，明天继续传。 今天上传到4mb了。[/quote] 这个论坛怎么上传,下栽资料都受限制,严重打击大家的积极性,郁闷!

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