根据加速寿命试验的结果数据，进行分析和处理，可以得到试验器件的可靠性分布参数。
如果电子元器件样品的失效机理符合Arrhenius模型的加速方程，则可在单对数坐标纸上画ti(0.5)～1/Ti直线，即将整理的1/T1、1/T2…1/Te数据在单边对数坐标上描点，各点分布应近似为一直线。此直线就是加速寿命曲线。利用此法可预测出在正常温度T0下的中位寿命ti(0.5)，如图8.5所示。
加速寿命试验的数据处理
利用威布尔概率纸可以预测正常温度下的寿命分布：
(1)由整理数据中的形状参数mi值可用下式计算出在正常温度T0下的m0值
式中，n1、n2、…ne是t1(0.5)、t2(0.5)…te(0.5)时的失效数。
(2)在概率纸上描绘[t0(0.5),F0(0.5)]点；
