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加速寿命试验的数据处理
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正文
4
123
Lv.1
根据加速寿命试验的结果数据,进行分析和处理,可以得到试验器件的可靠性分布参数。
如果电子元器件样品的失效机理符合Arrhenius模型的加速方程,则可在单对数坐标纸上画
t
i
(0.5)~1/
T
i
直线,即将整理的1/
T
1
、1/
T
2
…1/
T
e
数据在单边对数坐标上描点,各点分布应近似为一直线。此直线就是加速寿命曲线。利用此法可预测出在正常温度
T
0
下的中位寿命
t
i
(0.5),如图8.5所示。
链接“/>
图
8.5
加速寿命曲线
利用威布尔概率纸可以预测正常温度下的寿命分布:
(1)由整理数据中的形状参数
m
i
值可用下式计算出在正常温度
T
0
下的
m
0
值
链接“/>
(8.18)
[url]
链接
[/url]可靠性.com
式中,
n
1
、
n
2
、…
n
e
是
t
1
(0.5)、
t
2
(0.5)…
t
e
(0.5)时的失效数。
(2)在概率纸上描绘[
t
0
(0.5),
F
0
(0.5)]点;
链接“/>
图
8.6L
0
的求法
(3)在概率纸
y
轴标尺上找到
m
0
点,由此点向左引水平线与
y
轴相交,过交点与
m
估计点作直线H,再过点[
t
0
(0.5),
F
0
(0.5)]与H线平行的直线L
0
。L
0
线就是在温度应力
T
0
下,形状参数为
m
0
的寿命分布直线。如图8.6所示。
欢迎转载,转载附上中国可靠性网文章原文链接即可!
来源:中国可靠性网 原文链接:https://bbs.kekaoxing.com/50.html
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weisi
Lv.1
:o是不是还有没写完啊?
回复
sally_lit
Lv.2
沒有了?還沒看全!
回复
gbible
Lv.1
标签语言都上来了呢:)
回复
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