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    加速寿命试验的数据处理

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  • 可靠性试验
  • Lv.1

     

          根据加速寿命试验的结果数据,进行分析和处理,可以得到试验器件的可靠性分布参数。
          如果电子元器件样品的失效机理符合Arrhenius模型的加速方程,则可在单对数坐标纸上画ti(0.5)~1/Ti直线,即将整理的1/T1、1/T2…1/Te数据在单边对数坐标上描点,各点分布应近似为一直线。此直线就是加速寿命曲线。利用此法可预测出在正常温度T0下的中位寿命ti(0.5),如图8.5所示。
    链接“/>
    8.5加速寿命曲线
     
    利用威布尔概率纸可以预测正常温度下的寿命分布:
    (1)由整理数据中的形状参数mi值可用下式计算出在正常温度T0下的m0
    链接“/> (8.18)[url] 链接[/url]可靠性.com

    式中,n1n2、…net1(0.5)、t2(0.5)…te(0.5)时的失效数。
               (2)在概率纸上描绘[t0(0.5),F0(0.5)]点;
    链接“/>
    8.6L0的求法
      (3)在概率纸y轴标尺上找到m0点,由此点向左引水平线与y轴相交,过交点与m估计点作直线H,再过点[t0(0.5),F0(0.5)]与H线平行的直线L0。L0线就是在温度应力T0下,形状参数为m0的寿命分布直线。如图8.6所示。
    Lv.1
    :o是不是还有没写完啊?
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    沒有了?還沒看全!
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    Lv.1
    标签语言都上来了呢:)
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