关于电容可靠性测试问题征解

电容可靠性方面，我是一点都不懂。 但今天现查了一些资料，希望能对你有用。 ----------------------------------------- 具体见下面挂的帖子。

[size=5]摘要：针对片状钽电容在实际使用中失效率过高的问题!从电路设计和制造工艺两个方面分析导 致片状钽电容失效的原因!并根据分析的结果给出相应的预防其失效的具体措施"[/size] [[i]本帖最后由txz06于2009-4-2018:55编辑[/i]]

片状多层瓷介电容器可靠性问题分析 [[i]本帖最后由txz06于2009-4-2018:55编辑[/i]]

电解电容器的可靠性试验及失效分析 [[i]本帖最后由txz06于2009-4-2018:54编辑[/i]]

固体钽电容的使用可靠性 [[i]本帖最后由txz06于2009-4-2018:54编辑[/i]]

绕线电位器及纸介电容器在潮湿环境中使用的可靠性 [[i]本帖最后由txz06于2009-4-2018:54编辑[/i]]

等效厚度评估GaAsMMIC的Si_3N_4电容可靠性 [[i]本帖最后由txz06于2009-4-2018:53编辑[/i]]

呵呵,每一个都卖分啊.

我解释一下,每天帖子为啥都要2个金币的原因。主要原因如下： 1）因为挂出的每篇paper,都是比较专业的，真正需要的人，不会太多。 2）楼主在付出论坛币之后，一般会比较珍惜的。 2）每篇paper，2个论坛币，其实也不是太贵的。而且，这论坛币，说白了，对大家没有实际的价值。

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