第16届IEEE国际集成电路物理与失效分析和可靠性（IPFA2009）设备展览

拓展国内企业、大学、科研院所，国外市场的绝佳机会。介时将会有电视、媒体、记者等多方报道。

第16届IEEE国际集成电路物理与失效分析和可靠性（IPFA2009）设备展览将于2009年7月8日-10日在苏州举行。
在科技日益更新的当今社会，产品的失效分析和可靠性日渐被关注，产品出现可靠性与质量问题后要进行专业的失效分析才能帮助产品有更好的品质提升，因此涌现出对失效分析与可靠性设备的大量需求。为了提供一个设备商与客户面对面推广其产品和服务的平台，特举办IPFA2009设备展。
全球网络
IPFA仪器展是源自新加坡的品牌展，该展会自1987年首次举办迄今已22年的历史，确立了在失效分析、可靠性技术的顶尖地位。同时也积极拓展到世界各地，包括在美国相应的仪器展会为IRPS（可靠性物理国际会议）仪器展和ISTFA（测试与失效分析国际会议）仪器展；在欧洲，相应的仪器展会为ESREF（欧洲电子器件可靠性与失效物理分析会议）仪器展。网络覆盖全球，有利于设备商在全球推广其产品和服务。
国际化、权威性的研讨会
IPFA是半导体领域失效分析与可靠性的国际顶级会议。自1987年首次在新加坡举办以来，IPFA2009是首次在中国举行。本次会议是论文数最多、参加人数最多、规模最大的一次会议。吸引了近1000名来自中、美、欧洲、新加坡、日本及亚太其他各国及地区的专家或公司高级人才。
响应市场诉求，IPFA2009仪器展创历史规模
自从1987年成功举办之后，IPFA仪器展每届均有长足的发展。本界仪器展是历史上规模最大一次展会。这一方面反映了展商对中国市场浓厚的兴趣，另一方面，也说明了中国市场对失效分析与可靠性仪器设备的迫切需求

祝您身体健康，心想事成，工作顺利，事业有成。

黄卫东
IPFA2009展览委员会主席

林天辉（DrTimFaiLam）
IPFA2009技术程序主席

宋宪忠
IPFA2009大会主席

联系人：杜，13656228177