我想做一个电源监控芯片的加速试验，要计算测试时间，但不知道Ea的取值，希望大家给予指导~不胜感激[list=1]
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[quote]18楼附:
微电子器件失效激活能快速评价法.pdf(398.84KB)[/quote]
激活能Ea如何取值？(附微电子器件失效激活能快速评价法)
murenlijun
Lv.1
失效模式 失效机理 激活能（eV）
阈值电压漂移 离子性（SiO2中的钠离子漂移） 1.0~1.4
阈值电压漂移 离子性（Si－SiO2界面的低阻挡层）1.0
漏电流增加 形成反型层（MOS器件） 0.8~1.4
漏电流增加 隧道效应（二极管） 0.5
电流增益下降 因水分加速离子移动 0.8
开路 铝的腐蚀 0.6~0.9
开路 铝的电迁移 0.6
短路 氧化膜击穿0.3
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sunjj
Lv.4
靓号：116
用于加速模拟寿命试验的Ea值，一般国际大厂使用0.7eV，也有保守的使用0.6eV。
这些数据可以在这些厂商的网站上取得，一般在〈质量和可靠性手册〉中。
这些数据的取得，当然要试验后取得，也可以直接引用。
关于你的案例（电源监控芯片），也可以要求芯片流片厂提供。
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deadxiaoh
Lv.5
感谢SUNJJ！
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weijia0219
Lv.3
一般电子类产品我们公司的EA取值都取0.67eV.不知道有更加科学的取值方法没？谢谢
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gwncc123
Lv.1
不建议用参考值，还是要自己设计实验做出实验值的
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阿華
Lv.1
半導體會參考MIL-HDBK-217的0.43ev
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dreampet
Lv.4
我们目前用0.7ev，等积累足够数据后再推算自己产品的ev
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mars_liu
Lv.1
最准确就是先做实验知道产品的寿命,在用模型返回来求Ea
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qiuxuyudy
Lv.1
有没有EA的相关选取的列表可以共享下
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wlbvine123
Lv.3
用模型返回来求Ea
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