Arrhenius模型在ALT中的应用案例

案例2 功率发光二极管的寿命预测 案例3 阿列尼乌斯模型在红外微型金属杜瓦的真空寿命试验研究中的应用

案例4 阿列纽斯方程与电感镇流器的耐久性测试 案例5 基于Arrhenius模型快速评价功率VDMOS可靠性 [[i]本帖最后由txz06于2009-5-720:05编辑[/i]]

Case6 ARRHENIUSANDTHETEMPERATUREDEPENDENCE Thispaperexaminesthetemperaturedependenceofcomponenthazardrateforthecasesoflog-normal andWeibullfailure-timedistributionsandshowsthatthecommonbeliefthatthetemperaturevariation ofcomponentfailureratefollowstheArrheniusrulecanbesubstantiallyinerror.Althoughmostfailures inpresent-dayequipmentarenotduetodefectivecomponents,thepaperalsoexaminesthetemperature dependenceofequipmentrateofoccurrenceoffailurehavingapower-lawornegativeexponential variationwithtimeforthetemperaturerangewherethemajorityoffailuresareduetorateprocesses obeyingtheArrheniusequation.TheconsequencesofaGaussiandistributionoffailure-mechanism activationenergyinadevicepopulationarealsoconsidered. Althoughthetemperaturedependenceoffailureratecanbeveryhigh,inmostsituationsitismuch lessthanthatoftheArrheniusaccelerationfactor.Itisveryimprobablethatthetemperaturedependence ofcomponentfailureratecanbemeaningfullymodelledforreliabilitypredictionpurposesor forthepurposeofoptimizingthermaldesigncomponentlayout. Attentionisdrawntotheinvalidityofdeterminingthefailureactivationenergyfromtheaverage failureratesinacceleratedhigh-temperaturetime-terminatedlifetests

Case7 ACTIVATIONENERGIESANDTHEARRHENIUS ThispaperexaminesthecurrentuseoftheArrheniusequationandtheactivationenergiesassociatedwith integratedcircuits.AshortintroductiontotheArrheniusequationisgivenanditisshownhowactivation energiesmaybecomputedfromexperimentaldata. Thepapernextaddressesthefollowingbasicquestion:isitreasonabletoextrapolatefrom high-temperaturelaboratorylife-testsdowntouseconditionsusingthe.Arrheniusequation?Thepaper showsthattheanswertothisquestioningeneralmustbeanemphaticno.Itisnotthevalidityofthe Arrheniusequationassuchthatisquestioned,butitsindiscriminateusebyreliabilitypractitionersacross theelectronicsindustry. Thisisnotascientificpaper,andno‘proofs’aregiven.Thediscussionisbasedon‘typical’integrated circuitsusingpublisheddataonthetemperaturedependenceofthehazardrateofsuchcircuits.Thepaper servesasawarningagainstthinkingthat‘wellestablishedpractices’arenecessarilyscientificallysound.

激活能的意义:激活能是晶体中晶格点阵上的原子运动到另一点阵或间隙位置时所需的能量,是反映温度应力对产品寿命影响的一种指标。对产品而言,它从正常的未失效状态向失效状态转换的过程中存在着势垒,这就是激活能。激活能越小,失效的物理过程越容易进行激活能越大,加速系数越大,越容易被加速而失效。 激活能是不随温度变化的常数。也就是说,对应于某失效机理,激活能是不随温度变化的常数,这就保证了加速寿命试验的可行性。事实上,当温度大于500K时,激活能不再为常数。对于电子产品来说,温度应力一般不会500K超过。 激活能会随产品批次的不同和同批不同类的产品而不同,此外,同一产品的不同失效模式也会使激活能发生变化。因此,使用已公布的数值并不一定合适。

阿，这样就能发表了？　呵呵看来我当时应该把这个文章修涩一下也去发表一下啊。呵呵 看来一下,感觉[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-6057-1-1.html][b]Arrhenius模型[/b][/url]这样论文都没有自己的太多的东西,都是书籍上摘录修涩一下而已. 发个我06年写的关于led加速寿命测试的。跟上面一样，也是没啥内涵，呵呵[attach]4453[/attach] [[i]本帖最后由vince1981于2009-5-817:09编辑[/i]]

问一下vince,第三页中公式：E=bk/lge为什么会多除一个lge 而你计算的数值：=7455.422*0.8617*10^-5=0.642433714 如果多除了lge=0.4343EA结果是：1.479239497 从第一页公式中说明：E=bk/lge(E:Systemsactivationenergy) 系统激活能？？？？ 关于EA，新转了一篇文章，大家有兴趣可以看一下：[url] 链接[/url]

呵呵,之前也是抄的一本书上的公式,看来有点问题,不过计算的时候没有按公式去算,所以有点错误,多谢.呵呵.我修改一下,以免给别人带来误解.

国内的文章，一般起的作用是科普作用。 但IEEE中关于Arrhenius的文章，要读懂的话，实在太难。 ------------- WayneNelosn在1970年和1971年连续发表的那3篇文章，要搞明白的话，估计要1个月。 -------------

Vince你好， 你没事读读《AnalysisofAcceleratedLifeTestData-PartITheArrheniusModelandGraphicalMethods》这篇论文，我估计你肯定会如户灌顶。 经典就是经典！ ----------------- 这篇文章，我估计你要读几天，才能体会其中的一些意境。 ---------------- 金老大，你有时间也读一下。 ---------------- 附：本文章，只对阅读权限高于50的可靠性论坛资深会员开放。