对产品进行可靠性试验，根据试验的目的选用什么试验方法，选用什么试验条件，如何确定失效判据，如何选择抽样方式，最后对产品进行可靠性评价的结果符合什么可靠性等级，这在现有国内、国际上制定的各种可靠性技术标准上几乎都有明确规定。这说明对于电子元器件质量和可靠性水平，在国际上已有统一的标准。对于电子元器件产品适用于民用、工业用、军用和宇航用都有相应的标准或相应的等级要求。这为我们开展可靠性试验提供了方便条件。
用于电子元器件可靠性试验的主要技术标准如表8.5所列。在表8.5所列的各种标准中，过去美军MIL标准一直在世界上占主要地位。由于现在在国际上存在着电子元器件可靠性国际认证问题，所以IEC标准正逐渐成为主流。我国这方面的标准大多数是参考MIL标准和IEC标准制定的。世界各国的电子元器件生产厂也都按照这些标准规定的方法进行。
表8.5主要的可靠性试验方法标准
IEC标准[InternationalElectrotechnicalCommission(国际电工委员会)]
68号出版物：基本环境试验法
147-5号出版物：半导体器件的机械及耐气候性试验方法
MIL标准[MilitaryStandard（美国军用标准）]
MIL-STD-202：电子、电器元器件试验方法
MIL-STD-750：分立半导体器件试验方法
MIL-STD-833：微电子器件试验方法
BS标准[BritishStandard（英国标准）]
BS-9300：半导体器件的试验方法
BS-9400：IC的试验方法
JIS标准[JapaneseIndustralSandard（日本工业标准）]
JISC7021：分立半导体器件的环境试验方法和疲劳试验方法
JISC7022：半导体集成电路的环境试验方法和疲劳试验方法
EIAJ标准[StandardElcctronicIndustriesAssociationofJapan（日本电子机械工业协会标准）]
SD-121：分立半导体器件的环境和疲劳性试验方法
IC-121：集成电路的环境及疲劳性试验方法
其它：NASA标准，CECC标准，防卫厅标准，汽车工业标准等
