1、以不大于1deg/min的温变率上升至25deg，然后在试验室用大气条件下恢复2h？
2、以不大于1deg/min的温变率上升至25deg，然后在试验室用大气条件下恢复2h，同时用风机吹干？
3、升温至高温（譬如50deg）烘烤，然后降温至25deg？
我主要想知道那些热容量大的产品是怎么恢复的？对于电工电子产品，低温贮存试验后，如果高温烘烤恢复，是否会破坏低温贮存引起的失效模式？如果会，可能有哪些失效模式会因为烘烤而破坏的？
请问大家低温贮存试验后样品是以什么条件恢复的？
david
Lv.1
参考过华为的一些环境试验曲线，一般都是用第一种方式进行恢复。
你的第二种加风机吹干，也是怕里面有水气吧，那样的话可适当延时恢复时间2小时啊。
低温贮存 一般用GB/T2423.1-1989这个标准！可以看看里面是怎么介绍的！
[[i]本帖最后由david于2007-6-2409:32编辑[/i]]
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cliffcrag
Lv.6
靓号：9999
一些失效模式可以看看这些文章：
[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/238.html]1)低温对产品的影响[/url]
[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/239.html]2)高温对产品的影响[/url]
[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/240.html]3）温度变化对产品的影响[/url]
[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/241.html]4）湿热对产品的影响[/url]
[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/242.html]5）振动试验对产品的影响[/url]
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david
Lv.1
这五种状态下对产品影响的文章很不错，
以后做环境试验的时候，失效分析会有针对性了，心中也好有个谱！
多谢多谢！！！
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arvinghchen
Lv.5
个人理解,以上三种方法没有任何差别,
关于"是否会破坏低温贮存引起的失效模式"个问题的理解是
1.假设在回到常温前可能存在基某种失效,但是此种失效在产品恢复常温2小时内便不再存在,
对于此种情况,我们可不必过份关注.
2.产品在存储完成,回到常温2小时后,出现某种失效.
对于此种情况,找出失效点,改善之,列出经验总结即可.
实际的工作中,此种细节是允许被忽略的
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