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    请问大家低温贮存试验后样品是以什么条件恢复的?

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    1、以不大于1deg/min的温变率上升至25deg,然后在试验室用大气条件下恢复2h?
    2、以不大于1deg/min的温变率上升至25deg,然后在试验室用大气条件下恢复2h,同时用风机吹干?
    3、升温至高温(譬如50deg)烘烤,然后降温至25deg?

    我主要想知道那些热容量大的产品是怎么恢复的?对于电工电子产品,低温贮存试验后,如果高温烘烤恢复,是否会破坏低温贮存引起的失效模式?如果会,可能有哪些失效模式会因为烘烤而破坏的?

    Lv.1
    参考过华为的一些环境试验曲线,一般都是用第一种方式进行恢复。 你的第二种加风机吹干,也是怕里面有水气吧,那样的话可适当延时恢复时间2小时啊。 低温贮存 一般用GB/T2423.1-1989这个标准!可以看看里面是怎么介绍的! [[i]本帖最后由david于2007-6-2409:32编辑[/i]]
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    Lv.6
    靓号:9999
    一些失效模式可以看看这些文章: [url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/238.html]1)低温对产品的影响[/url] [url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/239.html]2)高温对产品的影响[/url] [url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/240.html]3)温度变化对产品的影响[/url] [url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/241.html]4)湿热对产品的影响[/url] [url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/242.html]5)振动试验对产品的影响[/url]
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    Lv.1
    这五种状态下对产品影响的文章很不错, 以后做环境试验的时候,失效分析会有针对性了,心中也好有个谱! 多谢多谢!!!
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    个人理解,以上三种方法没有任何差别, 关于"是否会破坏低温贮存引起的失效模式"个问题的理解是 1.假设在回到常温前可能存在基某种失效,但是此种失效在产品恢复常温2小时内便不再存在, 对于此种情况,我们可不必过份关注. 2.产品在存储完成,回到常温2小时后,出现某种失效. 对于此种情况,找出失效点,改善之,列出经验总结即可. 实际的工作中,此种细节是允许被忽略的
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