失效率讨论

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可靠性指标计算是很多朋友经常遇到的东西，论坛里关于MTBF的帖子和讨论很多，但关于失效率的好像还不够多，希望大家关于这个话题多交流！

通常电子元器件的失效率大致符合浴盆曲线：包括早期失效、随机失效和磨损失效三部分；相应的有早期失效率、随机失效率和磨损失效率的指标。一般早期失效我们可以通过应力筛选剔除，在正常出货和使用的产品中就不再去计算。所以比较多的是要求计算随机失效率和磨损失效率。

随机失效率Randomfits：随机失效阶段是产品正常工作的阶段，在这一阶段产品有近似恒等的失效率，一般失效率相当较低。计算中我们用指数分布。通过计算产品的器件小时数（可以是试验得到的数据和现场使用数据），再根据实际失效数，以及要求的置信度水平来计算公式如下：
FailureRate=10^9(NR)/t
N随机失效数
Ttol总的器件小时数
R根据置信度和失效数用卡方分布计算的系数，可参考下表：
N012345
(60%C.L.)0.922.021.551.391.311.26
(90%C.L.)2.303.892.662.232.001.85
这个失效率也可以根据Arrhenius方程换算成其它温度的随机失效率。

磨损失效率Wearoutfits：这一阶段，由于机械磨损、材料老化等产品失效开始增多，失效率越来越高。计算中我们用对数正态分布。通过收集产品实际失效时间信息（或推断产品失效时间）计算累计失效百分比，然后用对数正态坐标纸画出累积失效百分比与时间的关系图，应该近似为一直线。通过该直线读出50%失效的时间，也就是中位寿命，读出84%和16%失效的时间以便计算标准差（
standarddeviation={LN(T84)-LN(T16)}/2
算出中位寿命ML和标准差后就可以计算给定时间的磨损失效率（比如20年，10年，5年）。这个公式我没有，不知道有没有哪位朋友可以补充！
另外，以上只是个人的一些理解，不对的地方请指正