大家好，在下入半导体行业不久，被一个问题所困扰，还望大家不吝赐教，非常感谢。
首先，我浏览了这个版面的很多话题，学习了一些基本概念，不过还是没能找到答案。
半导体零部件（以IC产品为例）出货前一般要抽样进行reliability测试，测试项依照plan，一般包括HTOL，HAST，PCT等，samplingsize可参照国际标准，如果达到验收要求，则该批货可放行。我认为这个阶段的测试结果另一方面亦可可用来预测MTBF。但如何去筛选出早期失效的IC呢，如果需要筛选，则要100％做，而不是sampling，那么测试系统和测试硬件就成了问题，如果一批货几百甚至上千片，那里找这样的设备能放进这么多IC呢？如果分批测，又会需要很长时间，导致延期出货！请问IC产品是否一定要在出货前做100％筛选测试呢？
