广东赛特供应-GJB1864A-2011低温存储寿命试验
低温存储寿命试验
实验目的
为了考核低温对试样的影响，确定试样在低温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。
实验原理
低温下电子元器件的电参数会发生变化、材料变脆及其材料冷缩产生应力等。使电子元器件 处于低温环境下一定时间,考核电子元器件的电参数是否发生变化、材料是否变脆、材料冷缩 产生应力有多大等，从而确定电子元器件的抗低温能力。
实验参考标准
JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011
度试验，含水率，胶合强度，缓冲材料拉伸性能，胶带测试，初粘性测试，持粘性测试，金相分析，材料分析，饮用水检测，螺丝扭力测试，盐雾测试。
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