科明高压加速老化试验箱HAST系列

产品用途

HAST试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

试验参数

试验容积：25-55L可选

温度范围（饱和/非饱和）：105℃～151.4℃（100%R.H）；105℃～133.3℃（100%R.H）

110℃～157.5℃（85%R.H）；110℃～140℃（85%R.H）

118℃～162.5℃（65%R.H）；118℃～150℃（65%R.H）

湿度范围：65%R.H～100%R.H

压力范围（饱和/非饱和）：0.019～0.393MPa

0.019～0.208MPa

温度均匀度：±0.5℃

设备特点

^l     内胆采用双层圆弧设计，可防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

^l     采用高效真空泵，使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态。

^l     采用7寸真彩式触摸屏，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。

^l     汽车级硅胶整体密封条，气密性好，耐用。

^l     全自动补水功能，前置式水位确认。

^l     采用干湿球传感器直接测量（控制模式分为：干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式）