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    紧急求助 活化能Ea

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  • 请教各位大虾,有没有关于Bellcore推荐的活化能Ea值的相关资料?
    活化能Ea值除了Bellcore推荐的之外,还有没有其他的资料可以查到活化能Ea值啊?
    需要通过加速寿命试验预估产品的MTBF,但是产品成本太高,产量也不是很大,所以没办法拿出很多产品来做加速寿命试验(最多不会超过5个产品),公司之前没有做过任何关于MTBF的试验,关于活化能Ea也没有任何资料和参考数据,该如何进行试验得到MTBF值?
    以上请各位大虾不吝赐教,多谢!:handshake

    Lv.6
    靓号:9999
    EA=[(K*T1*T2)/(T2-T1)]*ln(k2/k1) •T2为加速温度下的失效率 •T1为常温下的失效率 •K1、K2为加速和常温的K氏温度 •K为Boltzmann常数(8.623*10-5eV/K) *JEDEC对于印刷电路板的推荐值为0.7eV *某电脑公司对于电脑系统的推荐值为0.5eV *推荐值的范围大部分落在0.5eV~0.7eV之间 [size=3][color=blue]因为大部份文章或标准推荐0.5eV~0.7eV,所以我在计算的时候常用的是:0.6[/color][/size] 下面是一个不同器件的EA参考值,很久以前我在一个老论坛发过.你参考一下: ACCELERATIONFACTORACTIVATIONENERGYCALCULATIONNOMINALACTIVATIONENERGY [table=310][tr][td]COMPONENT[/td][td]Ea(eV)[/td][/tr][tr][td]Transformers[/td][td]0.5[/td][/tr][tr][td]Resistors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]R-Pacs[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Inductors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Capacitors[/td][td]0.6[/td][/tr][tr][td]LinearModules[/td][td]0.7[/td][/tr][tr][td]Diodes[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]BridgeRectifiers[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]Transistors[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]OpticalIsolators[/td][td]1[/td][/tr][/table]
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    非常感谢! 不过我还有几个问题~_^ 1.我们产品还处在研发设计阶段,而且没有类似产品也没有相应的参考资料 或数据,所以公式中用到的T2加速温度下的失效率&T1常温下的失效 率没有办法得到。 2.我们的产品不是普通消费性电子产品,其他所有测试规格都是按照GJB来制 定的,我不知道如果直接将Ea用0.6是否可以?
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    Lv.6
    靓号:9999
    [i=s]本帖最后由cliffcrag于2011-6-1814:36编辑[/i] 我们在做一款军品类产品的时候,就用过0.6的EA, 这个激活能我也不是很熟悉,看过几篇文章的介绍,但是都没怎么深入的了解过,所以现在大家用的0.6是推荐的值. 你问我直接用EA为0.6是否可用,呵,我也没法和你说可不可用,当然具体是否应用还是看你的理解了,另:shamoudelinhun是你的邮箱吧,今天晚上回去后看找篇关于EA介绍的文章发给你看看. [url] 链接[/url] 7楼附件可以看看试验方法。
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    是我的邮箱,非常感谢! 我一直都想找这方面的资料,但是找到的也都是理论性很强的那种,都要通过大量产品进行试验后得出的,没做过那么复杂的试验,而且也没有那么多的产品。我以前那家公司也是直接用0.6的,不过是普通消费性电子产品。现在产品这么少,都不知道怎么去做这个试验。 谢谢!
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    各位大俠是否有關於EA的書籍可否傳給我一份TKS信箱為:[email]junwei.yan@sh.coretronic.com[/email]
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    Lv.4
    admin,说的有些道理,但是有错误的地方,那就是每个温度点之间的ea不是一定的,这点请大家明白。不同的加速模型,对应的反向推导公式也是不同的,但是它们都是需要实际测算2个应力点的。
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    Lv.4
    刚才细看了一下,admin出的那个公式怎么和我用的不一样。我的是EA=K(1/T2-1/T1)Ln(MTTF2/MTTF1),这个是Arrhenius推导出来的。
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    如果用温度作为加速应力的话应该都用Arrhenius模型吧? 如果通过自己做试验得出的Ea在各个温度点之间应该会有点差距,因为试验数据本身就会有误差,但是Arrhenius认为对于某失效机理,在500K以下Ea是不随温度变化的常数。 还有,请教一下,实际测算两个应力点得出Ea具体怎么实现啊?我只有5个产品。 [[i]本帖最后由echoxfs于2007-7-1710:11编辑[/i]]
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    MTTF是怎么计算出来?是指第一个失效发生的时间还是几个失效发生后再平均出来的时间? 计算Ea的时候和产品的寿命分布形式有没有关系啊? 一般的电子产品基本上是符合指数分布还是威布尔分布啊?
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    cliffcrag: 帮忙也发给小弟一份,谢谢 gabriel.li@auo.com
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