紧急求助 活化能Ea

EA=[(K*T1*T2)/(T2-T1)]*ln(k2/k1) •T2为加速温度下的失效率 •T1为常温下的失效率 •K1、K2为加速和常温的K氏温度 •K为Boltzmann常数（8.623*10-5eV/K） *JEDEC对于印刷电路板的推荐值为0.7eV *某电脑公司对于电脑系统的推荐值为0.5eV *推荐值的范围大部分落在0.5eV~0.7eV之间 [size=3][color=blue]因为大部份文章或标准推荐0.5eV~0.7eV，所以我在计算的时候常用的是：0.6[/color][/size] 下面是一个不同器件的EA参考值,很久以前我在一个老论坛发过.你参考一下: ACCELERATIONFACTORACTIVATIONENERGYCALCULATIONNOMINALACTIVATIONENERGY [table=310][tr][td]COMPONENT[/td][td]Ea(eV)[/td][/tr][tr][td]Transformers[/td][td]0.5[/td][/tr][tr][td]Resistors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]R-Pacs[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Inductors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Capacitors[/td][td]0.6[/td][/tr][tr][td]LinearModules[/td][td]0.7[/td][/tr][tr][td]Diodes[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]BridgeRectifiers[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]Transistors[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]OpticalIsolators[/td][td]1[/td][/tr][/table]

非常感谢！ 不过我还有几个问题~_^ 1.我们产品还处在研发设计阶段，而且没有类似产品也没有相应的参考资料 或数据，所以公式中用到的T2加速温度下的失效率&T1常温下的失效 率没有办法得到。 2.我们的产品不是普通消费性电子产品，其他所有测试规格都是按照GJB来制 定的，我不知道如果直接将Ea用0.6是否可以？

[i=s]本帖最后由cliffcrag于2011-6-1814:36编辑[/i] 我们在做一款军品类产品的时候，就用过0.6的EA, 这个激活能我也不是很熟悉,看过几篇文章的介绍,但是都没怎么深入的了解过,所以现在大家用的0.6是推荐的值. 你问我直接用EA为0.6是否可用,呵,我也没法和你说可不可用,当然具体是否应用还是看你的理解了,另:shamoudelinhun是你的邮箱吧,今天晚上回去后看找篇关于EA介绍的文章发给你看看. [url] 链接[/url] 7楼附件可以看看试验方法。

是我的邮箱，非常感谢！ 我一直都想找这方面的资料，但是找到的也都是理论性很强的那种，都要通过大量产品进行试验后得出的，没做过那么复杂的试验，而且也没有那么多的产品。我以前那家公司也是直接用0.6的，不过是普通消费性电子产品。现在产品这么少，都不知道怎么去做这个试验。 谢谢！

各位大俠是否有關於EA的書籍可否傳給我一份TKS信箱為:[email]junwei.yan@sh.coretronic.com[/email]

admin,说的有些道理，但是有错误的地方，那就是每个温度点之间的ea不是一定的，这点请大家明白。不同的加速模型，对应的反向推导公式也是不同的，但是它们都是需要实际测算2个应力点的。

刚才细看了一下，admin出的那个公式怎么和我用的不一样。我的是EA=K（1/T2-1/T1）Ln（MTTF2/MTTF1），这个是Arrhenius推导出来的。

如果用温度作为加速应力的话应该都用Arrhenius模型吧？ 如果通过自己做试验得出的Ea在各个温度点之间应该会有点差距，因为试验数据本身就会有误差，但是Arrhenius认为对于某失效机理，在500K以下Ea是不随温度变化的常数。 还有，请教一下，实际测算两个应力点得出Ea具体怎么实现啊？我只有5个产品。 [[i]本帖最后由echoxfs于2007-7-1710:11编辑[/i]]

MTTF是怎么计算出来？是指第一个失效发生的时间还是几个失效发生后再平均出来的时间？ 计算Ea的时候和产品的寿命分布形式有没有关系啊？ 一般的电子产品基本上是符合指数分布还是威布尔分布啊？

cliffcrag: 帮忙也发给小弟一份,谢谢 gabriel.li@auo.com