电子产品在做HALT测试的高温步进或高低温快速温变或综合试验的时候需要去掉过温保护功能吗？
我觉得不需要，过温保护不也是现场的功能之一吗？也许过温保护的检测执行功能模块在高温环境时有故障呢？
我认为是需要去掉过温保护的，HALT试验主要是测试产品的极限，如果不去掉温度保护，这个试验就没有意义了。
我觉得去掉过温保护功能和不去掉过温保护功能都可以做一下
HALT的目的是发现问题，去掉能够发现的问题就是温度承受的薄弱环节，如果这个方面已经没有设计改进的余地了，那么就没必要去掉。如果不知道，那么去掉，发现薄弱点，再分析改进
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我觉得不需要，过温保护不也是现场的功能之一吗？也许过温保护的检测执行功能模块在高温环境时有故障呢？
我认为是需要去掉过温保护的，HALT试验主要是测试产品的极限，如果不去掉温度保护，这个试验就没有意义了。
我觉得去掉过温保护功能和不去掉过温保护功能都可以做一下
HALT的目的是发现问题，去掉能够发现的问题就是温度承受的薄弱环节，如果这个方面已经没有设计改进的余地了，那么就没必要去掉。如果不知道，那么去掉，发现薄弱点，再分析改进