[i=s]本帖最后由keegan于2013-12-412:54编辑[/i]
最近看JESD47时，了解到了可靠性试验数量计算的公式：
N>=0.5*X2(1-CL,2*f+2)*(1/LTPD-0.5)+C
**文档中的公式应该不对，卡方分布的参数颠倒顺序了
N为样品数量
X2为卡方分布
CL为置信度
LTPD为允许次品率
C为可接受的失效数
于是，文档中给出了下表（TableA）：
之前我们的可靠性试验数量一般是3lots，每lot77颗，那我的问题是，按照此表，我们遵循的是LTPD=5,C=1的规范？也就是说我们的试验应该允许有1颗失效？
与此同时，我在此文档中看到另一个表（Table2）：
此表中的几个试验的数量均为3lots/25units，请问这个样品量是哪里来的？
不知道我理解哪里有偏颇，请各位不各赐教。
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