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    • 可靠性试验与试验后测试的时间要求

    在进行可靠性试验时，每步试验后均有相应的测试。请问试验跟测试之前的时间有没有具体的要求？我查看JEDEC文档，其中只是对几个试验项目做了说明，而Precondition等几个试验没有查到。请大家帮忙解...
  • keegan keegan
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  • 可靠性试验
  • 2014-08-08 11:16 电脑端
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    • 失效率λ的计算

    关于失效率λ的计算，现在有些疑惑，请各位帮忙解释一下。先谢谢各位了。 理论上的算法是这样的 λ(t)=F'(t)/R(t) 其中F(t)是0～t时间内的失效百分比， R(t)为相应的通过筛选的百分比，...
  • keegan keegan
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  • 可靠性试验
  • 2014-05-08 15:45 电脑端
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    • ELFR试验目的及实施时间

    之前，我们公司在对电子产品进行可靠性认证时有做过ELFR试验，当时是将此项目是在BurnIn之后进行的。 最近，我在读JEDEC文档（JESD74A）时，模糊的感觉到ELFR试验应该在BurnIn之前...
  • keegan keegan
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  • 可靠性试验
  • 2014-05-08 13:17 电脑端
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    • 论坛欢迎讨论

    从什么时候开始，论坛就开始变成了这么一种模式：楼主上传资料，楼下的就称赞楼主人品。 拜托楼主上传资料的时候能不能简单介绍一下资料内容！拜托楼下的回复不要只为了奖励而回复。 没讨论，无进步。 问题解决不...
  • keegan keegan
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  • 可靠性试验
  • 2014-04-30 16:05 电脑端
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    • 样品数量

    查看AEC文件时，关于WirebondShear/Pull样品数量，文档中写得是“30bondsfromaminimumof5devices"，请问，是不是要求从5个器件中做30次测量就够了？还是每个...
  • keegan keegan
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  • 可靠性试验
  • 2014-04-09 14:10 电脑端
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    • HAST试验加电原理

    我们公司是生产DRAM芯片的，请问在做高加速应力试验的时候，对各个引脚加电遵循的原理是什么?...
  • keegan keegan
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  • 可靠性试验
  • 2014-03-26 08:38 电脑端
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    • 关于可靠性试验样品数量的问题

    [i=s]本帖最后由keegan于2013-12-412:54编辑[/i] 最近看JESD47时，了解到了可靠性试验数量计算的公式： N>=0.5*X2(1-CL,2*f+2)*(1/LTPD-...
  • keegan keegan
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  • 可靠性试验
  • 2013-12-04 11:00 电脑端
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    • TC温度上下限的选取

    我在看JEDECJESD22-A104D时，看到TC的条件分类有11项（A,B,C,G,H,……）之多。文档也只是说要根据产品类型适当选择TC条件。但到底该如何选择呢？我们做电子芯片的TC试验时，经常...
  • keegan keegan
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  • 可靠性试验
  • 2013-12-03 13:36 电脑端
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    • 哪些试验是加速试验？它们对应的模型分别是什么？

    在电子产品可靠性试验中，到底哪些试验是加速试验？湿度是加速的因素之一吗？对应着不同的加速因素，用来计算的模型分别是什么呢？ 请各位不吝赐教。...
  • keegan keegan
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  • 可靠性试验
  • 2013-11-28 16:29 电脑端
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    • 关于SEM，都有哪些品牌？

    大家能不能给推荐几个SEM的品牌，我再做深入的调研？谢谢大家了。...
  • keegan keegan
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  • 2013-11-04 16:52 电脑端
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