之前,我们公司在对电子产品进行可靠性认证时有做过ELFR试验,当时是将此项目是在BurnIn之后进行的。
最近,我在读JEDEC文档(JESD74A)时,模糊的感觉到ELFR试验应该在BurnIn之前进行,但又不是很确定。
请问各位,ELFR试验的目的是用来检查产品的早期失效率,时间是在BI之前还是之后呢?如果是之后进行,难道此试验的目的是评估产品在用户使用阶段的一个失效率?
P.S读AEC文件时,ELFR是在BI之后进行的。
之前,我们公司在对电子产品进行可靠性认证时有做过ELFR试验,当时是将此项目是在BurnIn之后进行的。
最近,我在读JEDEC文档(JESD74A)时,模糊的感觉到ELFR试验应该在BurnIn之前进行,但又不是很确定。
请问各位,ELFR试验的目的是用来检查产品的早期失效率,时间是在BI之前还是之后呢?如果是之后进行,难道此试验的目的是评估产品在用户使用阶段的一个失效率?
P.S读AEC文件时,ELFR是在BI之后进行的。
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