激活能除了经验估计之外,对于整机进行老化试验的激活能如何科学的选取?
有没有通过理论计算等得到的方法?
是否可以通过元器件在不同温度下的不同失效率反算激活能?
请各位大哥指教:):)
请教:电子产品整机加速寿命试验激活能的选取方法
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一般来说是通过三温法来求解,但是整机我不太清楚,我觉得可以选取整机最薄弱的点来进行试验。