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    • 器件击穿电压与ESD HBM关系？

    请问看论文很多都在讲如何提高GaAs的击穿电压  ，但是很少有人提过如何提高抗ESD的能力，是因为后者可以用前者来进行表征是吗？...
  • lyz4943 lyz4943
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  • 可靠性试验
  • 2020-12-21 17:45 电脑端
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    • 热红外测结温设备

    请问有人知道热红外测结温设备的厂家吗？  公司想购买一台来测结温，...
  • lyz4943 lyz4943
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  • 设备技术交流
  • 2020-11-24 10:48 电脑端
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    • MOS三端器件热阻结构函数曲线问题

    请问在关于MOS的热阻测试中；在运用电学法测出了下图的降温曲线后是如何得到下图热容值的。热阻可以通过公式得出，但是热容不知道如何计算出来的。...
  • lyz4943 lyz4943
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  • 可靠性试验
  • 2020-11-18 10:29 电脑端
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    • 请问关于抽取Ea激活能使用三温法时的数量要求。

    RT，在确定激光二极管的Ea激活能时，请问要如何确定最低数量要求呢？我看到JEP188的推荐值是50个器件，但没有给出最小值。...
  • lyz4943 lyz4943
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  • 可靠性设计
  • 2020-11-09 14:33 电脑端
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    • 寿命相关问题求助。

    请问行业中说的要求器件使用寿命满足十年是指MTTF=10years还是？在计算出AF加速因子后，能否将HTOL时间*AF的结果认为是器件的寿命呢？...
  • lyz4943 lyz4943
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  • 可靠性试验
  • 2020-11-05 14:36 电脑端
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