筛选的目的

       前面已介绍过，电子器件的失效率与时间的关系可用浴盆曲线来表示。曲线分三个阶段即早期失效阶段、偶然失效阶段和耗损失效阶段。筛选的主要目的在于通过对产品实施100%非破坏性筛选试验，剔除具有潜在缺陷的早期失效产品，以提高批产品的可靠性。一般在微电路产品上施加一定的电、热应力，其产品特性分布会有如图8.2所示的变化。施加应力的大小的确定主要考虑因素是，如何才能有利于将具有潜在缺陷的早期失效产品与合格产品分离开来，即有利于失效产品的劣化，而不会损伤合格产品。