施加于电子元器件的加速应力方式有恒定应力加速、周期应力加速、序进应力加速和步进应力加速四种。
恒定应力加速试验是施加在样品上的应力不变(单一应力或复合应力)，用来了解器件失效时间的分布；
周期应力加速试验是周期性重复对器件施加应力，用来了解应力对器件失效的影响情况；
序进应力加速试验是对器件施加的应力随时间连续增加，用来了解影响器件寿命的应力分布情况；
步进应力加速试验是对器件施加的应力按每隔一定时间的步进方式增加，用来了解在哪一级步进应力下产生失效。
利用这些加速试验方法，可以确定器件的失效界限，所以也称为临界试验。
通过临界试验可以知道临界寿命，还可以了解器件对机械强度、电浪涌等能承受的耐量
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