失效模式的發生概率

2.6.1失效模式的發生概率

成品失效模式發生概率的分類見下表。

等 級 發 生 概 率

A 級 （經 常 發 生 ） 大於 產品 總 失 效概 率 的 20％

B 級 （ 有 時 發 生 ） 產品 總 失 效概 率 的 10％ ~20％

C 級 （ 偶然 發 生 ） 產品 總 失 效概 率 的 1％ ~10％

D 級 （ 很少 發 生 ） 產品 總 失 效概 率 的 0.1％ ~1％

E 級 （ 極 少 發 生 ） 小於 產品 總 失 效概 率 的 0.1％

估計失效模式發生概率有多種方法，諸如：事件時序樹分析法ETA，

故障樹分析法FTA等。

從認為是失效原因的初始事件出發，按時間順序追蹤，到成為產品的

最終事件為止，按照零部件的功能和應用的順序，把在阻止事件發生上

是成功的或者是失敗的事件展開，再求取其概率。

如下圖，圖中的大寫英文字母代表事件，因為每一種事件都可能有兩

種狀態，即完好和故障狀態。例如，A、B、C、D分別代表不同四種事件

的完好狀態，相反，為故障狀態。A為初始事件，按照事件發生的時序，

依次與各事件的兩種狀態連接起來構成時序樹。樹中每一條連通線就是

一個事件序列，下圖共有八個事件序列（分枝）。