电子元件失效分析深圳高级培训

关于举办“电子元器件失效分析技术与案例”高级研修班的邀请函

各有关单位：

为了满足广大元器件生产企业对产品质量及可靠性方面的要求，中国电子电器可靠性工程协决定在全国组织召开“电子元器件失效分析与案例”高级研修班。研修班将由具有工程实践和教学丰富经验的教师主讲，通过讲解大量实例,帮助学员了解各种主要电子元器件的失效机理、失效分析方法和纠正措施。具体事宜通知如下：

一、主办单位：中国电子电器可靠性工程协会；

二、承办单位：北京怀远文化传播中心；

三、培训时间、地点:

2天，深圳 第六期 2007年6月2-3日，6月1日报到；

四、培训费用：2000元/人（两天，含培训费、证书费、午餐费）。请在开班前传真报名或邮寄回执表。我们将在开班前2天内寄发《报到通知书》，告知详细地点及行车路线。

五、培训证书：中国电子电器可靠性工程协会培训证书；

六、课程对象：系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、研究员，质量可靠性管理和失效分析工程师；

七、课程提纲：

第一部分 电子元器件失效分析技术
1．失效分析的基本概念和一般程序

2．失效分析的电测试

3．无损失效分析

4．模拟失效分析

5．制样技术

6．形貌像技术

7．扫描电镜电压衬度像

8．热点检测技术

9．聚焦离子束技术

10. 微区化学成分分析技术

第二部分 分立半导体器件和集成电路的失效机理和案例
1．塑料封装失效

2．引线键合失效

3．水汽和离子沾污

4．介质失效
5．过电应力损伤

6．闩锁效应

7．静电放电损伤

8．金属电迁移

9．金属电化学腐蚀

10．金属-半导体接触退化

11．芯片粘结失效

第三部分 电子元件的失效机理和案例

1. 电阻器

2. 电容器

3. 继电器

4．连接器

5．印刷电路板和印刷电路板组件

第四部分 微波半导体器件失效机理和案例

第五部分 混合集成电路失效机理和案例

第六部分 其它器件的失效机理和案例

#p#副标题#e#

八、师资介绍：

费庆宇 男，中国电子产品可靠性与环境试验研究所高级工程师,理学硕士,“电子产品可靠性与环境试验”杂志编委，长期从事电子元器件的失效机理、失效分析技术和可靠性技术研究。分别于1989年、1992－1993年、2001年由联合国、原国家教委和中国国家留学基金管理委员会资助赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。他领导的“VLSI失效分析技术”课题组荣获2003年度“国防科技二等奖”。他领导的“VLSI失效分析与可靠性评价技术”课题组荣获2006年度“国防科技二等奖”。2001年起多次应邀外出讲学,获得广大学员的一致好评。

九、联系方式：

电 话：010-87670039 13146970844

传 真：010-87614798 67642668

E-MAIL：best@zhongyinet.com

联系人：田 雨

《电子元器件失效分析技术与案例高级研修班》

回 执 表

报名单位名称（开发票）：

户 名：北京怀远文化传播中心

帐 号：200601040006275

开户行：农行北京南三环支行
汇款方式
银行转帐□ 现金□ 网上汇款□
汇款日期
2007年 月　 日
是否住宿
是□ 否□
食宿标准
宿：280-300元/标间（费用自理）；食：午餐免费，其他费用自理。
备注：请注明欲参加班次（请在括号里打√）。 深圳〖 〗
发件人：田 雨 电话：010-87670039 13146970844