长期储存试验中敏感参数衰减模型研究

摘要：

本文对某型号元器件贮存 7 年的敏感参数γ的测试数据随时间的变化趋势进行了研究，发现其随时间的变化总趋势趋于平缓；并对该敏感参数的数学衰减模型进行了研究，用非线性拟合确定了该型号元器件的敏感参数的衰减模型，其线性相关性都在 80 ％以上。因而，该模型是可以接受的。