航天电子产品可靠性增长试验的关键技术浅述

航天电子产品可靠性增长试验的关键技术浅述(Key Technology of Reliability Growth Test for Avionics)
胡经畲
(中国运载火箭技术研究院，北京 100076)
摘 要：可靠性增长试验是以暴露产品的薄弱环节为出发点，井证明改进措施有效， 达到可靠性增长的目的 文中谈及的可靠性增长试验方案的选择．试验过程中出现故障后试验如何往下进行， 及在试验结果评估中如何处置关联故障等是结台航天工程实跣的具体经验总结。对开展好可靠性增长试验具有现实意义，值得借鉴
关键词：电子产品：可靠性增长；试验；关联故障
中图分类号：v 443 文献标识码：A

1 概 述
可靠性增长试验是国军标GJB 450的一个工作项目，是电子产品实现可靠性增长的一个有效途径。
可靠性增长试验是一项工程试验， 是为达到可靠性增长执行研制计划过程所采用的一种试验方法。它是一个有目标、有
计划的试验— — 分析— — 改进(TAAF)的迭代过程。在这个过程中，电子产品处于实际使用环境或模拟环境的条件下经受试验。可靠性增长试验本身只能暴露问题，不能提高电子产品的固有可靠性。只有采取了防止电子产品在工作期间重复出现故障的纠正措施之后，才能达到可靠性增长的目的。
   因此．可靠性增长试验应与“故障报告、分析及纠正措施系统(FRACAS)构成一个整体，要特别重视故障的分析、纠正措施及效果的验证几个环节。从某种意义上讲，故障原因的分析， 比试验本身更为重要 因为故障原因的正确判断，乃是防止故障再现的关键。故障诊断过程，应设法使故障复现， 以进一步证实对故障原因的判断是否符合实际。另外， 一定要谨慎地采取纠正措施。因为可靠性增长试验要剔除的是电子产品系统性和批次性的故障，纠正措施对全部产品实施，而纠正措施是否真正有效，往往要到下一个试验周期才能得到证实在工程研制阶段．承制方为提高电子产品的可靠性可以有计划地按试验— — 分析— — 改进(TAAF)流程进行设计改进，而无严格的合同限翩。如果投产之前巳完全达到了可靠性要求． 别一项成功的增长试验可以免去可靠性鉴定试验，这为十多年来航天工程中一贯采用的与可靠性鉴定试验相结合的增长试验方法提供了依据。
2 问题的提出
自20世纪8o年代中期以来，我国航天科技领域开始重视可靠性增长以及可靠性增长试验技术的研究和应用。根据研制工作的需要，学习和借鉴美军标准， 并结合航天电子产品实际，逐步开展了一些关键电子产品的可靠性增长试验工作，取得了对工程有指导意义的成功经验。
但是，在工程实践中我们不时地发现，航天电子产品的可靠性增长试验如果完全按照国军标GJB 1407—92(它是参照美军
标MIL—sri)一1635所编制的)执行，就会在具体实施过程中暴露出周期进度和保障经费等方面的两大问题。
(I)国军标 1407—92规定，一般情况下， 当MTBF的要求为5o__200h时，试验时问为要求值的5—25倍。工程实践告诉我们，使用方(也包括军方)提出的MTBF要求值通常为200 h，那么， 接规定试验时间至少为l000 h。试验费用若按每
小时400元计，则一次增长试验费用(尚不包括对试验过程中所出现故障的分析、纠正和验证费用)至少要40万元。显然，这种既费时又耗钱的试验，在工程上，往往难以实现，无法采纳。
(2)由于研制的型号多， 而每个型号的各个分系统均要求在产品初样阶段和试样阶段各安排一次可靠性增长试验。当时(试验初期的8o年代)能投入试验的“三应力(温度、随机振动和湿度)” 试验箱只有一台(到9O年代中期才增至两台)， 因
而出现了需要试验的各型号的分系统多，而能投入试验的设备太少这两者之间的矛盾，有时这种矛盾甚至十分突出。
遵照提出问题、分析问题和解决问题的行为逻辑， 针对上述情况，促使试验一线人员去研究和探索一条符合航天工程实际、具有可操作性的可靠性增长试验的路子。

3 没有模型的(与可靠性鉴定试验相结合的)增长试验方案
在试验经费和周期进度受限制的条件下，采用这种方式来进行可靠性增长试验是从工程实际出发的，它适用航天电子产品。没有模型的可靠性增长试验方案， 并不是说它没有试验时间T的计算公式和对试验结果的评估方法.