可靠性增长试验

作　　者： 梅文华 编著 出 版 社： 国防工业出版社

• 出版时间： 2003-5-1
• 字　　数：
• 版　　次： 1
• 页　　数： 250
• 印刷时间：
• 开　　本：
• 印　　次：
• 纸　　张：
• I S B N ： 9787118031119
• 包　　装： 精装

定价：￥25.00

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内容简介

可靠性增长试验是在真实的或者模拟的环境条件下对产品进行正规试验以暴露并确定系统性失效模式和机理，通过采取纠正措施防止失效模式的重复发生从而提高产品可靠性的过程。对可靠性增长试验进行投资，可以大大节省产品在整个寿命周期内的维护费用。本书介绍可靠性增长试验的有关知识。
全书共分7章：1.可靠性增长概述；2.可靠性增长试验；3.Duane模型；4.AMSAA模型；5.多台产品AMSAA模型；6.Gompertz模型及其改进型；7.电子产品可靠性增长工程。本书内容深入浅出，力求理论推导与工程应用相结合，在多台同型产品可靠性增长试验评估方法等 方面有创见，为合理地评价产品的可靠性水平提供了科学的理论依据，具有重大的工程应用价值。部分研究结果被国际标准IEC61014、IEC61124和IEC61164采纳。
本书可供装备管理机关和论证、研制、生产、试验部门的管理人员和工程技术人员使用，也可作为高等院校相关专业的教学参考书。

作者简介

梅文华，1965年1月生，湖南涟源人。空军第一研究所高级工程师，空气级专家，空军工程大学硕士生导师，海军工程大学兼职教授，中国电子学会高级会员中国电子学会青年工作委员会副主任委员，中国电子学会可靠性分会委员，全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会委员。1988年获国防科技大学工学硕士学位，1999年获北京邮电大学工学博士学位。曾获国家科学技术进步奖二等奖1项、国家技术发明奖三等奖1项。3次荣立个人三等功。在国际学术会议、国家级学报等刊物发表学术论文50余篇，在国防工业出版社出版《跳频通信地址编码理论》和《可靠性增长试验》。

目录

第一章 可靠性增长概述
1 可靠性增长的基本概念
2 可靠性增长技术的发展
3 可靠性增长的作用及意义
第二章 可靠性增和试验
1 可靠性增长试验的计划
2 可靠性增长试验的准备
3 可靠性增长试验的跟踪
4 可靠性增长试验的结果
第三章 Duane模型
1 Duane模型概述
2 Duane模型的数学描述
3 Duane模型的图分析法
4 Duane模型的最小二乘法
5 多台产品Duane模型
第四章 AMSAA模型
1 AMSAA模型概述
2 完全数据时的AMSAA模型
3 分组数据时的AMSAA模型
4 丢失数据时的AMSAA模型
5 含间断区间的分组数据时的AMSAA模型
第五章 多台产品AMSAA模型
1 多台产品AMSAA模型概述
2 多台同型产品异步纠正时的AMSAA模型
3 多台同型产品同步纠正时的AMSAA模型
第六章 Gompertz模型及其改进型
1 Gompertz模型及期改进型概述
2 估计Gompertz模型参数的Viene算法
3 估计Gompertz模型参数的非线性回归最小二乘法
4 改进Gompertz模型
第七章 电子产品可靠性增长工程
1 美国海军电子产品第一个TAAF项目
2 航空电子产品可靠性增长的规范化管理
3 延缓纠正时的增长预测模型
4 可靠性鉴定试验中出现系统性失效时的处理
附录
参考文献

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