失效分析测试项目:
力学性能(拉伸强度、屈服强度、断裂伸长率,洛氏、维氏、布氏、邵氏、显微硬度,弯曲、疲劳、冲击、磨损、压缩试验)
电学性能( 表面电阻率、体积电阻率、耐电压 ,介质损耗角正切值、介电常数 )
热血性能(失重温度、玻璃化转变温度、膨胀系数,脆化温度、热变形温度、维卡软化温度,导热系数、热阻、燃烧性 )
微观性能(金相分析、平均晶粒度、热处理评价,宏观断口分析、微观断口分析 ,X射线衍射分析、表面残余应力 )
外观检查 (体视显微镜) •电性能测试 (参数测试、功能测试) •无损检查(X-RAY 透视检查,SAM) •开封、去层(机械开封、塑封开封、离子蚀刻) •显微观察(体视显微镜、金相显微镜,扫描电子显微镜SEM、显微剖切) •失效点定位(探针、电参数测试、红外热像、微光显微分析EMMI) •物理分析、试验验证(X射线能谱仪EDS, 俄歇电子显微镜AES, 二次离子质谱仪SIMS, 原子力显微镜AFM, 透视电子显微镜TEM, 傅立叶红外显微镜FT-IR等) •失效机理分析 Failure Principle Analysis
联系人:Camille Li
Tel: 86-755-3368 4133
Fax: 86-755-3368 3385
Mobile: 13714119201
E-mail: camille.li@cti-cert.com
请登录之后再进行评论