深圳:从失效模式探讨可靠性验证对策研讨会
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面对日新月异的竞争市场，芯片设计企业除了要快速将产品量产上市，同时更需关注芯片设计/制作的质量，过往的「功能设计Design For Function」观念已无法满足消费者对于产品质量的要求，新的观念是在设计初期即导入该项产品生命周期的任务使命，也就是所谓的「可靠性设计Design For Reliability」，降低未来量产时，产品失效导致的客诉退货机会。
此外，芯片在开发/量产/客退的失效分析与除错效率，也是分秒必争的关键。尤其在制程迈向28/20纳米先进制程的失效分析更是困难。如何针对各种不同的IC失效模式，选择最正确有效的程序，来加速分析效率与节省分析成本? 如何正确解读分析结果，进一步判断修改方向? 这是许多芯片设计开发者经常面临的问题。
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iST深圳宜特科技特别邀请台湾总部-iST宜特科技具20年丰富经验的半导体专家，分别就芯片失效现象、可靠性与失效分析的不同面向观点，切入探讨芯片问题，将多年实务经验，化为一系列的教战准则与业界先进进行分享。
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时 间
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内 容
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8:30-09:00
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报 到
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09:00-10:30
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如何从客退品之故障模式，评估芯片设计前期需关注哪些可靠性验证?
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常见芯片失效模式与失效原因
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失效模式对应之可靠性验证方法
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10:30-10:45
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茶 歇
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10:45-12:30
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借鉴市场常见失效案例，如何拟出自家可靠性验证防范对策?
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12:30-13:30
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午 餐
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13:30-14:45
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如何正确选择失效分析工具，判断芯片缺陷的修改方向?
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14:45-15:00
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茶 歇
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15:00-16:20
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16:20-16:30
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Q&A
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讲师简介
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曾劭钧
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现职：iST宜特科技 台湾总部 可靠度工程处副处长
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经历：硅品，凌越等技等IC可靠度试验规划与执行，IC可靠度教育训练讲师与技术咨询，在IC验证规划、寿命分析与可靠度工程验证技术有相当丰富经验
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庄凌艺
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现职：iST宜特科技 台湾总部宜特科技故障分析工程处资深经理
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经历：曾任职于友达光电、台积电、华亚科技，超过14年电子产业经验，工作期间曾获多项国内外专利，特别在产品工程、良率提升及产品故障失效之分析有丰富经验。
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报名信息
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参加对象：
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芯片设计厂之研发、质量保证、制程等相关工程人员
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课程地点：
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新桃園酒店(海岸店)-深圳南山區文心五路海岸城大廈東座 ( 查看地图) |
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洽询专线：
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iST宜特科技活动窗口:
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iST深圳宜特科技业务窗口:
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+86-755-86153371 分机4604 趙小姐
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报名方式：
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请点选网页右上角「 立即报名」进行在线报名。即日起额满为止，欲报从速。 (一间公司限三名，若同公司有三名欲参与，每个人皆需填写报名表以利后续保留位置，报名是否成功确认以主办单位回复为主) |
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注意事项
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主办单位保留报名资格之最后审核权利，并于活动前一周以E-mail寄发「课前通知」，以示您的参加资格。请于活动开始前进行报到。
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未能准时报到或当天无法出席之学员，本论坛无法为您保留讲义与座位，亦无法提供讲义电子文件。
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若因不可预测之突发因素，主办单位保留变更论坛时间、议程内容及相关事项之权利。
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现场报名之学员，主办单位视现场状况保有开放进场与否之权利。
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iST宜特科技台湾总部
iST深圳宜特科技有限公司
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关于iST集团–宜特?宜硕
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始创于1994年，iST集团从 IC 线路除错及修改起步，逐年拓展新服务，包括故障分析、可靠度验证、材料分析与质量保证等，建构完整验证与分析工程平台与全方位服务。客户范围囊括了电子产业上游 IC 设计至中下游成品端。随着绿色环保意识抬头，宜特不仅专注核心服务，并关注国际趋势拓展多元性服务，建置无铅与无卤可靠度验证、化学定量分析与碳足迹温室气体盘查服务，顺利取得多项国际知名且具公信力的机构 ─ 德国 TUV NORD 与英国 BSI 认证。同时在国际大厂的外包趋势下，iST集团也扮演品牌公司委外制造产品的独立质量验证第三公证实验室，取得 Dell、Cisco、Delphi、Continental Automotive、Lenovo 等品牌大厂认证实验室资格。
iST集团以追求精准、完美、效率的原则从新竹出发，陆续在世界拓展营运据点，包括大陆地区-昆山、上海、北京、深圳、武汉、成都；日本IC Service；美国IST成立实验室，期能为客户提供更完整、快速、先进与创新之高质量技术服务，与全球领先趋势共同成长。进一步信息请至公司网站：www.isti.com.cn 查询。 |
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