上海场 28纳米芯片设计关键密码-从失效方式探讨可靠性验证对策研
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通知：本场研讨会现复办日期为：6/24（周一）
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面对日新月异的竞争市场，芯片设计企业除了要快速将产品量产上市，同时更需关注芯片设计/制作的质量，过往的「功能设计Design For Function」观念已无法满足消费者对于产品质量的要求，新的观念是在设计初期即导入该项产品生命周期的任务使命，也就是所谓的「可靠性设计Design For Reliability」，降低未来量产时，产品失效导致的客诉退货机会。
此外，芯片在开发/量产/客退的失效分析与除错效率，也是分秒必争的关键。尤其在制程迈向28/20纳米先进制程的失效分析更是困难。如何针对各种不同的IC失效模式，选择最正确有效的程序，来加速分析效率与节省分析成本? 如何正确解读分析结果，进一步判断修改方向? 这是许多芯片设计开发者经常面临的问题。
iST宜硕科技(上海)特别邀请台湾总部-iST宜特科技具20年丰富经验的半导体专家，分别就芯片失效现象、可靠性与失效分析的不同面向观点，切入探讨芯片问题，将多年实务经验，化为一系列的教战准则与业界先进进行分享。
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时 间
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内 容
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8:30-09:00
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报 到
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09:00-10:30
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如何从客退品之故障模式，评估芯片设计前期需关注哪些可靠性验证?
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常见芯片失效模式与失效原因
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失效模式对应之可靠性验证方法
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10:30-10:45
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免 费 茶 歇
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10:45-12:30
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借鉴市场常见失效案例，如何拟出自家可靠性验证防范对策?
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12:30-13:30
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免 费 午 餐
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13:30-14:45
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如何正确选择失效分析工具，判断芯片缺陷的修改方向?
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14:45-15:00
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免 费 茶 歇
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15:00-16:20
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16:20-16:30
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Q&A
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讲师简介
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曾劭钧
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现职：iST宜特科技 台湾总部 可靠度工程处副处长
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经历：矽品 & 凌越科技等IC可靠度试验规划与执行，IC可靠度教育训练讲师与技术咨询，在IC验证规划、寿命分析与可靠度工程验证技术有相当丰富经验
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庄凌艺
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现职：iST宜特科技 台湾总部宜特科技故障分析工程处资深经理
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经历：曾任职于友达光电、台积电、华亚科技，超过14年电子产业经验，工作期间曾获多项国内外专利，特别在产品工程、良率提升及产品故障失效之分析有丰富经验。
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报名信息
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参加对象：
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芯片设计厂之研发、质量保证、制程等相关工程人员
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课程地点：
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上海市徐汇区漕河泾900号三楼报告大厅(漕河泾开发区) ( 查看地图) |
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洽询专线：
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iST宜硕科技业务窗口:
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+86-21-6406-9881 分机 2280 何小姐
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iST宜特科技窗口:
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报名方式：
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请点选网页右上角「 立即报名」进行在线报名。即日起额满为止，欲报从速。 (一间公司限三名，若同公司有三名欲参与，每个人皆需填写报名表以利后续保留位置，报名是否成功确认以主办单位回复为主) |
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注意事项
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主办单位保留报名资格之最后审核权利，并于活动前一周以E-mail寄发「课前通知」，以示您的参加资格。请于活动开始前进行报到。
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未能准时报到或当天无法出席之学员，本论坛无法为您保留讲义与座位，亦无法提供讲义电子文件。
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若因不可预测之突发因素，主办单位保留变更论坛时间、议程内容及相关事项之权利。
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现场报名之学员，主办单位视现场状况保有开放进场与否之权利。
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iST宜特科技台湾总部
iST宜硕科技(上海)有限公司
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来源：中国可靠性网 原文链接：https://bbs.kekaoxing.com/79650.html
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