【5/13号深圳场】芯片可靠性验证关键因素研讨会
|
|
|
|
|
|
|
|
广大的市场需求带动近年Fabless的IC设计产业在中国快速崛起，但产品的质量发展速度却跟不上市场的脚步，加上消费者意识抬头与国外竞争者的抢进，过去强调的高CP值的竞争优势逐渐丧失，下一阶段的战场将是在质量与可靠性上的竞赛。
高质量与可靠性 ≠ 高成本，了解问题的发生原因才能有效解决问题，此次研讨会将以深入浅出方式与各位从IC产品常见的故障模式来探讨先期可靠性的验证方式与其代表含义，依产品的应用/制程变更来拟定合适且有目的性的可靠性验证计划，并以此验证计划来评估产品未来的失效率。另外针对与客户端常见的ESD/EOS故障纠纷，课程中也将分享数个ESD/EOS在故障模式与分析流程的实际案例，与新式ESD/EOS的验证手法介绍。
iST宜特科技特别邀请台湾总部-iST宜特科技具备13年丰富经验的半导体专家，分别就芯片失效现象、可靠性与失效分析的不同面向观点，切入探讨芯片问题，将多年实务经验，化为一系列的教战准则与业界先进分享。您将会了解到：
|
|
|
|
|
如何应用可靠性验证来降低IC的客退率?
|
|
|
如何快速拟定可靠性验证计划
|
|
|
ESD/EOS的验证手法介绍
|
|
|
|
 |
|
时 间
|
內 容
|
主讲人
|
|
12:30-13:20
|
报 到
|
|
13:20-13:50
|
芯片不良对终端产品之影响性
|
宜特科技│中国区
崔革文 总经理
|
|
13:50-15:30
|
如何应用可靠性验证来降低IC的客退率?
(1) 从常见失效模式来探讨IC设计前期须对应的可靠性验证
(2) 快速拟定可靠性验证计划
|
宜特科技│可靠性工程处
曾邵钧 工程处长
|
|
15:30-15:40
|
茶 歇
|
|
15:40-16:40
|
ESD / EOS故障模式及分析结果实例分享
|
宜特科技│可靠性工程处
曾邵钧 工程处长
|
|
16:40-17:00
|
Q&A
|
|
|
|
|
|
|
|
讲师简介
|
|
曾劭钧
|
|
|
现职：
|
iST宜特科技 台湾总部 可靠度工程处副处长
|
|
|
经历：
|
矽品 & 凌越科技等IC可靠度试验规划与执行，IC可靠度教育训练讲师与技术咨询，在IC验证规划、寿命分析与可靠度工程验证技术有相当丰富经验
|
|
|
|
|
|
|
报名信息
|
|
|
|
参加对象：
|
IC设计公司之质量/可靠性工程相关人员
|
|
|
|
|
研讨会地点：
|
深圳高新技术产业园南区高新南七道清华大学研究院A107报告厅( 查看地图) |
|
|
|
|
洽询专线：
|
|
iST宜特科技活动窗口:
|
|
|
深圳宜特窗口:
|
+86-755-8615-3371 分机 4603 王小姐
|
|
|
|
|
|
报名方式：
|
请点击 「立即报名」进行在线报名。即日起额满为止，欲报从速 |
|
 |
|
|
|
|
|
|
注意事项
|
|
|
主办单位保留报名资格之最后审核权利，并于活动前一周以E-mail寄发「课前通知」，以示您的参加资格。请于活动开始前进行报到。
|
|
|
未能准时报到或当天无法出席之学员，本论坛无法为您保留讲义与座位，亦无法提供讲义电子文件。
|
|
|
若因不可预测之突发因素，主办单位保留变更论坛时间、议程内容及相关事项之权利。
|
|
|
现场报名之学员，主办单位视现场状况保有开放进场与否之权利。
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
欢迎转载，转载附上中国可靠性网文章原文链接即可！
来源：中国可靠性网 原文链接：https://bbs.kekaoxing.com/80455.html
请登录之后再进行评论