EOS模拟试验

EOS是啥?过电应力,一般就是过压或是过流,造成IC烧坏.大都IC厂商做分析时都是这个结论,除非你自己有能力分析,或是舍得烧银子请第三方机构分析.否则还是只能接受现实. 电快速脉冲群不适用的,再考虑一下吧.

估计要把EOS的全名弄清楚，才好理解。。

我今天又看了一下ADI对于EOS（Electricaloverstress)的说明： EOScoversabroadspectrumofevents,includingelectrostaticdischarge(ESD),latch-up,power-up/power-downtransients,andexcessiveDCcurrent/voltagelevels.ESDistypicallythemostcommonformofEOS,andconsequentlyitisthefocusofmuchofthischapter. 因为我们的产品对于芯片来说属于设备级，那么将EOS简单理解为ESD。对产品进行ESD阈值试验，可否？

TRANSCEIVER不懂是啥，是类似激光器方面的么？

EOS試過電壓或過電流造成的破壞,一般是在輸入端=>就IC解析燒毀現象會較明顯 ESD為靜電破壞再任何一支PIN腳皆會發生=>就IC解析燒毀現象為不明顯穿孔現象 EOS可以在輸入端加大電壓或電流去試試 不知這說明是否合理

TRANSCEIVER是光收发合一模块，激光器发光，接收器收光 EOS是在输入端加入大电压或电流，但是相对正常电压增加多少才合适... 这个才是最重要的地方。