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    • 振动可否作为筛选方法

    公司有款产品中需要利用胶成角度粘接一个小零件，但是在出厂检查中发现了粘接强度不够的现象。 因此向对此进行一次筛选，想到利用冲击振动，但是在883中指出了该试验属于破坏性试验。因此决定 利用包装后进行振...
  • simsmy simsmy
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  • 可靠性试验
  • 2013-01-04 11:45 电脑端
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    • “光猫”的可靠性验证

    现在随着FTTH和物联网的发展，光纤基本都到户了，现在出现了一种新的“猫”——光猫。并且作为一个新的产业在发展，那么在可靠性方面有什么参考标准呢！希望大家能帮忙给出建议！谢谢...
  • simsmy simsmy
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  • 可靠性试验
  • 2012-12-17 14:15 电脑端
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    • 老化时间的计算

    客户在GR468中看到了这个公式：ML(T2)/ML(T1)=AF 因此决定如果AF=3，并且希望产品寿命能够达到15000小时，那么样品老化时间需要是5000小时。 并且要求300只样品都能够做50...
  • simsmy simsmy
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  • 可靠性试验
  • 2012-11-29 09:10 电脑端
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    • 急求GR-418-CORE

    现在又个项目需要参考GR-418-CORE,到现在还没找到，那位有给我参考一下！谢谢...
  • simsmy simsmy
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  • 可靠性资料
  • 2012-05-22 13:56 电脑端
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    • PCB裸板的预计FIT是多少？

    在产品预计中，对于没有贴元器件的PCB裸板的预计FIT应该取多少啊？...
  • simsmy simsmy
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  • 热管理|热设计
  • 2012-05-18 11:13 电脑端
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    • Nf/h 是什么意思

    大家好，想问一下Failurerate的单位是Nf/h，那这个单位怎么理解 在线等。谢谢！...
  • simsmy simsmy
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  • 新手提问
  • 2011-03-23 16:50 电脑端
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    • 低温对电子产品工作的危害？

    一电子产品存储温度为-40~85，工作温度为0~85 （内部元器件均能耐低温，仅其中有一个电容工作温度不能达到-40） 如果将其放在低温-40的环境温度中工作，各参数正常。 但是这样对该产品的寿命有什...
  • simsmy simsmy
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  • 可靠性试验
  • 2010-06-13 10:41 电脑端
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    • 可靠性试验项目是否有什么顺序（串行试验时）

    微电子类产品进行可靠性试验时，参照GR-468的试验内容和MIL-STD-883中的试验方法进行，如果只有一组样品，试验顺序有没有要求？ 试验内容：冲击振动、低温存储、高温存储、恒定湿热、温度循环5个...
  • simsmy simsmy
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  • 可靠性试验
  • 2010-03-23 08:53 电脑端
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    • EOS模拟试验

    公司有款产品在设计过程中有人提出对EOS进行一定的模拟，来提高抗EOS的能力。 如果是ESD我倒会做，但是EOS确实不知道。 产品介绍：是个TRANSCEIVER，有管脚的，需要对信号管脚和供电管脚进...
  • simsmy simsmy
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  • 可靠性试验
  • 2010-01-27 14:16 电脑端
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    • FIT与PPM的换算（在线等）

    1FIT=1Χ10^(-9)Χ365Χ24Χ10^(6)PPM=8.760PPM 这个公式怎么理解？...
  • simsmy simsmy
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  • 2009-08-11 11:02 电脑端
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