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    • 常用可靠性测试规范_节选

      常用可靠性测试规范
      电子产品常用的工业级可靠性测试可分为以下几类

      • 环境应力测试

      • 电测试

      • 机械应力测试

      • 综合测试

       环境应力测试规范

      1 环境应力测试规范 标准说明
      1.01 上电温湿度循环寿命测试 JESD22-A100-B Cycled Temperature-Humidity-Bias Life Test
      1.02 上电温湿度稳态寿命测试 JESD22-A101-B Steady State Temperature Humidity Bias Life Test
      1.03 高加速蒸煮测试 JESD22-A102-C Accelerated Moisture Resistance -Unbiased Autoclave
      1.04 高温储存寿命测试 JESD22-A103-A Test Method A103-A High Temperature Storage Life
      1.05 高温储存寿命测试 JESD22-A103-B High Temperature Storage Life
      1.06 温度循环 JESD22-A104-B Temperature Cycling
      1.07 上电和温度循环(TC) EIA/JESD22-A105-B Test Method A105-B Power and Temperature Cycling
      1.08 热冲击 JESD22-A106-A Test Method A106-A Thermal Shock
      1.09 盐雾测试 JESD22-A107-A Salt Atmosphere
      1.1 高温环境条件下的工作寿
      命测试
      JESD22-A108-B Temperature, Bias, and Operating Life

      1.11 高加速寿命测试 JESD22-A110-B Test Method A110-B Highly-Accelerated Temperature and Humidity
      Stress Test (HAST)
      1.12 非密封表贴器件在可靠性
      测试以前的预处理
      JESD22-A113-B Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to
      Reliability Testing
      1.13 不上电的高加速湿气渗透
      测试
      JESD22-A118 Accelerated Moisture Resistance – Unbiased HAST
      1.14 插接器件的抗焊接温度测
      JESD22-B106-B Test Method B106-B Resistance to Soldering Temperature for
      Through-Hole Mounted Devices
      1.15 集成电路压力测试规范 EIA/JESD47 Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
      1.16 温度循环 JESD22-A104C Temperature Cycling

      电测试规范

      2 电测试规范
      2.01 人体模型条件下的静电放
      电敏感度测试
      JESD22-A114-B Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Human Body Model
      (HBM)
      2.02 机器模型条件下的静电放
      电敏感度测试
      EIA/JESD22-A115-A Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model
      (MM)
      2.03 EEPROM 的擦涂和数据保
      存测试
      JESD22-A117 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase
      Endurance and Data Retention Test
      2.04 集成电路器件闩锁测试 EIA/JESD78 IC Latch-Up Test
      2.05 微电子器件在电荷感应模
      型条件下的抗静电放电测
      JESD22-C101-A Field-Induced Charged-Device Model Test Method for
      Electrostatic-Discharge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components

      机械应力测试规范

      3 机械应力测试规范
      3.01 振动和扫频测试 JESD-22-B103-A Test Method B103-A Vibration, Variable Frequency
      3.02 机械冲击 JESD22-B104-A Test Method B104-A Mechanical Shock
      3.03 焊线邦定的剪切测试方法 EIA/JESD22-B116 Wire Bond Shear Test Method
      3.04 焊球的剪切测试 JESD22-B117 BGA Ball Shear BGA
      3.05 折弯测试 JESD22B113 Board Level Cyclic Bend Test Method for Interconnect Reliability
      Characterization of Components for Handheld Electronic Products
      3.06 掉落测试 JESD22-B111 Board Level Drop Test Method of Components for Handheld Electronic
      Products, July 2003 [Text-jd039]

      表 3 机械应力测试项目

      综合测试规范

      4 综合测试规范
      4.01 密封性测试 JEDEC Standard No.22-A109 Test Method A109 Hermeticity
      4.02 集成电路器件中使用的有
      机材料水分扩散和水溶性
      测定测试方法
      Test Method for the Measurement of Moisture Diffusivity and Water Solubility in
      Organic Materials Used in Integrated Circuits
      4.03 物理尺寸的测量 JESD22-B100-A Physical Dimensions
      4.04 外观检查 JESD22-B101 Test Method B101 External Visual
      4.05 可焊性测试方法 EIA/JESD22-B102-C Solderability Test Method
      4.06 器件管脚的完整性测试 EIA/JESD22-B105-B Test Method B105-B Lead Integrity
      4.07 图标的耐久性测试 EIA/JESD22-B107-A Test Method B107-A Marking Permanency
      4.08 表贴半导体器件的共面性
      测试
      JESD22-B108 Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices

      其他规范

      5 其它规范
      5.01 湿度敏感器件的符号和标
      JEP113-B Symbol and Labels for Moisture-Sensitive Devices
      5.02 硅半导体器件的失效机理
      和模型
      EIA/JEP122 Failure Mechanisms and Models for Silicon Semiconductors Devices
      5.03 针对非密封表贴半导体器
      件的湿度/回流焊敏感度分
      IPC/JEDEC J-STD-020A Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Nonhermetic Solid
      State Surface Mount Devices
      5.04 湿度/回流焊敏感标贴器件
      的处理、包装、运输和使用
      的标准
      IPC/JEDEC J-STD-033 Standard for Handling, Packing, Shipping and Use of
      Moisture/Reflow Sensitive Surface Mount Devices
      5.05 产品文档分类建议 EIA/JEP103-A Suggested Product-Documentation Classifications and Disclaimers
      5.06 针对非密封表贴半导体器
      件的湿度/回流焊敏感度分
      级 Supersedes IPC/JEDEC
      J-STD-020D August 2007,
      March 2008 [Text-jd037]
      IPC/JEDEC J-STD-020D.1 Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Nonhermetic
      Solid State Surface Mount Devices

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