电容屏带电双85老化测试

    电容屏在不带电条件下通过行业内最严酷的双85可靠性测试后，为了进一步验证电容屏在经过持续通电条件下是否仍具有优异的可靠性和稳定性。近期，某品牌技术团队专门对应用低阻透明导电膜生产的电容屏产品进行了更为苛刻的带电压双85老化测试（即抗银迁移测试）。

 一、测试装置及条件

    1、测试装置： 高低温交变湿热试验箱（RK-TH-408L）
    2、测试条件：通电32V（85℃+85%RH）； 
    3、测试时间：持续240H 
    4、测试标准：环测前/后的数据对比差异值小 

二、测试内容

    1、测试产品：某品牌65寸TP 
    2、测试数量：1片 

    3、物料情况：

三、测试结果

    1、某品牌电容屏测试前后的基本性能

    2、电容屏测试后的基本性能：经带电压（32V）85℃/85%RH.测试后，某品牌电容屏依然保持原有的性能特性，对比测试前后的充电电压数据及充电时间数据均在要求范围内，证明透明导电膜无机材料制成的TP可以通过带电压双85环测，不会出现纳米银线导电膜常有的银迁移现像，性能稳定可靠。
    本次带电压双85测试结果再次充分表明，应用某品牌技术制成的49寸、55寸、65寸、75寸、86寸电容屏产品，相比纳米银线、金属网格等产品更具有稳定性和可靠性优势，不存在银迁移隐患，可以放心应用于商用显示及智能家居等领域。