加速寿命试验的数据处理

       根据加速寿命试验的结果数据，进行分析和处理，可以得到试验器件的可靠性分布参数。

       如果电子元器件样品的失效机理符合Arrhenius模型的加速方程，则可在单对数坐标纸上画t_i(0.5)～1/T_i直线，即将整理的1/T₁、1/T₂…1/T_e数据在单边对数坐标上描点，各点分布应近似为一直线。此直线就是加速寿命曲线。利用此法可预测出在正常温度T₀下的中位寿命t_i(0.5)，如图8.5所示。