摘要：
本文描述了电子元器件在寿命试验中受到的电磁干扰，寻找其干扰源，分析产生的干扰机理，从而采取有效措施，排除干扰，使寿命试验达到预期的目的。
电磁干扰对电子元器件寿命试验影响和应变措施
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来源：中国可靠性网 原文链接：https://bbs.kekaoxing.com/50881.html
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本文描述了电子元器件在寿命试验中受到的电磁干扰，寻找其干扰源，分析产生的干扰机理，从而采取有效措施，排除干扰，使寿命试验达到预期的目的。
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