第三届北航失效分析和可靠性物理研讨会

– 会议介绍

  北京航空航天大学第三届失效分析和可靠性物理研讨会于2008年6月19日至21日在北京召开，会议特别邀请了三位国外专家，分为四项不同专题。

– 会议内容

     —专题1：国外可靠性工程和技术研究的最新进展

     —专题2：芯片和器件级可靠性

     —专题3：预测和健康监控(PHM)技术

     —专题4：军用产品的可靠性工程现状和可靠性工程问题讨论

    —会议报告：“军品可靠性预计标准（Mil-217/GJB299）的理论基础”

    —会议报告：“军用元器件的可靠性保证”

    —会议报告：”  “军用电子产品的可靠性试验

– 查看完整的会议报告

– 会议特约专家

     — 美国马里兰大学Calce中心主任 Michael Pecht

     — 日本横滨国立大学教授 Qiang Yu

     — 美国Freescale公司芯片主任可靠性工程师 Steve Yang

     — 北航失效分析和可靠性物理实验室特聘专家罗汉生

     — 北航可靠性工程研究所元器件工程部主任孙宇峰

– 主要参会名单

    —普天信息技术研究院有限公司

    —北京强度环境研究所

    —中国航空综合技术研究所

    —中国航空工业发展研究中心

    —北京青云仪表厂

    —北京微电子技术研究所

    —中国航空无线电电子研究所

    —核工业标准化研究所

    —航天恒星

    —北京控制工程研究所

    —华为技术有限公司

    —空军装备研究院装备总体论证研究所

    —中国兵器工业系统总体部

    –北京市清华大学精仪系制造所