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cheersgu
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cheersgu
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集成电路新产品可靠性验证试验完成后,SAT结果有分层,是否可以作为判定产品NG的依据?
请教下各位大佬,集成电路新产品可靠性验证试验完成后,SAT结果有分层,是否可以作为判定产品NG的依据?SAT分层的数量是否能做为试验失效数?有没有相关标准规定?...
cheersgu
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07-30 14:45
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cheersgu
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请教各位大侠一个可靠性实验产品使用寿命计算的问题
可靠性试验寿命的评估,依据艾琳模型,温度循环的循环数与 ΔT 之间成正比,加速因子 λ 的计算公式如下:λ=(ΔTuse/ΔTstress)^(-n),其中 ΔTuse 代表常态下的使用温度梯度差,Δ...
cheersgu
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可靠性设计
2022-04-11 14:10
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