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    • 高压蒸煮试验（HAST）

  • 金鉴实验室邵工 金鉴实验室邵工
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  • 2021-07-14 15:14 电脑端
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    • 加速试验中，HAST和HASS的区别

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  • 2020-10-16 16:32 电脑端
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    • 芯片可靠性测试之HAST高压加速老化测试

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  • 2020-10-13 09:02 电脑端
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    • HAST为什么能代替THB做微电路失效测试？

        近几年THB对微电路没那么有用了，因为芯片的封装质量提高了：要获得有用的结果，可能要经过数千小时的可靠性试验，因此需要高加速应力试验。高加速应力试验(H...
  • Kairos Kairos
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  • 2020-10-09 14:20 电脑端
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    • 高温低温对产品可靠性的影响

  • Chicony_ORT Chicony_ORT
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  • 可靠性试验
  • 2020-07-20 20:40 电脑端
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    • HAST试验箱在贴片薄膜电阻失效分析中的应用

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  • Kairos Kairos
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  • 2019-11-26 09:10 电脑端
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    • 芯片HAST电路设计

    本人初入可靠性这一快，对HAST偏压的电路设计不是很理解，还请教各位前辈电路这一块需要怎么设计； 我咨询过一些人，别人说的很模糊，说是需要相邻的两个管脚需要有电压； 大家能给一些更多的说明吗...
  • mm3515 mm3515
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  • 2019-03-08 08:17 电脑端
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    • JEDEC HAST 和 TH 测试差异？

    [i=s] 本帖最后由 gykhl126 于 2018-12-26 14:43 编辑 [/i] 这几天在看JEDEC 关于commponent和PCBA 的可靠性测试标准--JEP150 里面有关于H...
  • gykhl126 gykhl126
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  • 可靠性资料
  • 2018-12-26 14:37 电脑端
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    • HAST测试130℃/85% 96H,110℃/85% 264H

    HighlyAcceleratedStressTest即HAST测试有两种130℃，85%Vddmax96H/110℃，85%RHVddmax264小时 JESD47里面讲到建议130℃96小时适用于...
  • ghzoner ghzoner
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  • 2016-04-12 07:33 电脑端
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