安小鹏

  这些天重新看了下经常使用的几个可靠性加速模型，Arrhenius模型，Eyring模型，以及Eyring模型的拓展Peck Temperature-Humidity 模型。今天先分享下常用的Arrhenius(阿伦纽斯）模型计算以及通过Arrhenius模（查看原文）

什么是HALT试验？    HALT（Highly Accelerated Life Test）的全称是高加速寿命试验。HALT是一种通过施加逐级递增的环境应力或工作载荷，来加速暴露产品的缺陷和薄弱点的试验方法。主要应用于产品开发阶段，它能以较短（查看原文）

电子器件是一个非常复杂的系统，其封装过程的缺陷和失效也是非常复杂的。因此，研究封装缺陷和失效需要对封装过程有一个系统性的了解，这样才能从多个角度去分析缺陷产生的原因。封装的失效机理可以分为两类：过应力和磨损。过应力失效往往是瞬时的、灾难性的；磨损失效是长期的累积损坏，往往首先表示（查看原文）